李蓉
- 作品数：7 被引量：21H指数：1
- 供职机构：中国工程物理研究院电子工程研究所更多>>
- 发文基金：国防科技技术预先研究基金中国工程物理研究院电子工程研究所科技创新基金更多>>
- 相关领域：电子电信一般工业技术金属学及工艺化学工程更多>>
- 陶瓷二次金属化镀镍层厚度的无损检测被引量：1
- 2006年
- 本文分析了陶瓷-金属封接中二次金属化镀层厚度对陶瓷-金属封接质量的影响，提出采用X射线荧光光谱法（XRF）对二次金属化镀层厚度进行无损检测，分析了二次金属化镀层成分与含量，对二次金属化镀层的底材进行SEM分析，进行了检测用标准片的设计和标定，建立了XRF无损检测厚度方法的应用程序和校准方法。研究结果表明：采用X射线荧光光谱法，对二次金属化镀层厚度进行无损检测是可行的和可靠的；在试验的范围内（2．48-10．5μm），测量误差小于2％，RSD（相对标准偏差）小于2％。
- 曾敏伍智金大志杨卫英李蓉
- 关键词：陶瓷金属化镀层厚度无损检测
- 气体火花开关电极烧蚀研究被引量：18
- 2014年
- 采用Mo,WCu和W分别作为三种气体火花开关的主电极材料,进行放电条件下电极烧蚀实验,研究开关电极烧蚀率和烧蚀形貌,分析电极烧蚀特征。结果表明,Mo,WCu和W开关的主电极烧蚀率分别为3.32×10-2 C-1·m-2,2.63×10-2 C-1·m-2和1.74×10-2 C-1·m-2,W开关主电极烧蚀率最小。实验后开关的主电极中心烧蚀严重,呈现明显裂纹和烧蚀坑。Mo主电极表面呈现明显熔融态,阴极表面形成大量裂纹(宽度达10μm)和孔隙(孔径达10μm);WCu和W主电极表面形成少量圆球状W突起(粒径达20μm及以上)。开关外壳内壁沉积了喷溅颗粒。WCu开关外壳沉积颗粒较大(粒径达10μm),Mo开关外壳沉积颗粒居中(粒径为2μm),W开关外壳沉积颗粒最小(近1μm)。因此可优先选用具有优异抗烧蚀性能的W作为气体火花开关电极材料。
- 谢昌明谈效华杜涛唐兵华尚绍环李蓉李正林
- 关键词：气体火花开关电极材料微观形貌
- 真空用R_2Co_(17)稀土钴磁柱表面净化工艺的改进
- 2013年
- 本文对R2Co17磁柱零件的表面净化工艺加以改进,采用电化学工艺,效果良好。结果表明,R2Co17稀土钴磁柱零件采用电化学净化工艺,表面残留磁粉少,表面平整光亮,更好地满足了真空器件对该零件的要求。
- 李蓉陈虎李剑唐国云伍智
- 关键词：电化学法
- 金属化温度对掺锰铬陶瓷封接性能影响的研究被引量：1
- 2005年
- 研究了金属化烧结温度对掺锰铬陶瓷的封接性能的影响，初步分析了其影响原因与机理。结果表明：掺锰铬高氧化铝陶瓷对于MoMnSi配方的金属化反应活性高，1300℃是其最佳金属化温度，温度降低和升高都会导致封接性能降低。在最佳温度，金属化层烧结致密，金属化层与陶瓷间形成了主要由锰尖晶石（MnO·Al2O3）和少量硅氧化物构成的过渡层结构，从而将金属化层与陶瓷有效地连接在一起。温度升高使金属化层过度收缩会形成大量孔洞，元素氧化加剧，不利于过渡层的形成，导致封接性能大大降低。
- 伍智杨卫英李蓉曾敏邹桂娟
- 提高触发管工作可靠性的若干措施
- 通过对工艺过程和使用条件的分析，提出了通过电老炼方式和采用优良电极材料方式可有效提高触发管工作可靠性，并对采用钨成型电极装配触发管，有效提高触发管工作可靠性进行了较为详细的阐述。
- 尚绍环李蓉
- 关键词：触发管电极材料
- 文献传递
- 电真空器件内部可移动多余物检测方法研究被引量：1
- 2012年
- 腔体电真空器件内部可移动的多余物是引起元器件失效的原因之一,目前用于器件内部可移动多余物的常用检测手段是随机振动(SRT)和颗粒碰撞噪声检测(PIND)。对比两种检测方法对缺陷产品的检出率,给出比较合理的电真空器件可移动多余物的检测流程,以期尽可能地提高缺陷产品的检出率。
- 李蓉尚绍环
- 影响电真空陶瓷金属化质量的因素分析被引量：1
- 2007年
- 本文就一般文献资料中很少见到的关于陶瓷金属化过程中不同的工艺及其条件、材料使用方法等方面引起的产品异常现象进行了深入分析,并提出了相应的解决措施。
- 杨卫英伍智李蓉
- 关键词：陶瓷金属化黄斑斑纹
