李进
- 作品数：4 被引量：5H指数：1
- 供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
- 相关领域：电气工程交通运输工程机械工程金属学及工艺更多>>
- ENIG焊盘润湿不良失效分析被引量：1
- 2017年
- 针对化学镍金(ENIG)焊盘的上锡不良问题,选取了一个典型的案例进行分析。详细地介绍了分析的过程和手段,通过采用外观检查、金相切片、SEM&EDS等分析手段,发现了导致上锡不良的主要原因为黑焊盘造成的润湿不良。同时,总结和分析了导致此缺陷的原因和应采取的对策。
- 李进张浩敏袁保玉
- 关键词：化学镍金
- 某单片微波集成电路漏电问题分析
- 2018年
- 对某单片微波集成电路上机工作17个月后在客户端使用时频响不良的原因进行了研究。利用外观检查、 X-ray测试、 I-V特性曲线测试和声学扫描检查等手段对该单片微波集成电路的失效原因进行了具体的分析。通过测试发现样品的失效模式为漏电,内部芯片表面可见钝化层破损,因此推测样品失效与ESD损伤或沟道退化有关。
- 钱雨鑫汤仕晖李进
- 关键词：单片微波集成电路漏电
- 浸镀锡的蠕变腐蚀失效分析被引量：1
- 2019年
- 以某汽车用电路板为研究对象,对其短路失效现象进行了研究。通过采用金相切片、SEM、EDS、C3和离子色谱分析等手段,发现了导致短路的主要原因为蠕变腐蚀。同时,总结和分析了导致此缺陷的原因和应采取的对策。对于避免同类故障再次发生,提高产品的可靠性具有重要的意义。
- 李进钱雨鑫汤仕晖
- 关键词：短路
- 电压检测芯片失效分析被引量：3
- 2017年
- 近年来,随着智能电表的广泛使用,其质量和可靠性问题受到了人们越来越多的关注。但是,由于各种原因,产品投入市场后仍会出现各种失效现象。因此,对某智能电表的电压检测芯片的失效现象进行了分析,通过外观检查、电参数测试和X-射线测试等手段找到了该芯片的失效原因,并针对发现的问题提出了相应的改进意见。
- 袁保玉侯旎璐李进
- 关键词：智能电表电参数测试
