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杨金丽

作品数:3 被引量:9H指数:2
供职机构:北京工业大学材料科学与工程学院更多>>
发文基金:北京市自然科学基金现代焊接生产技术国家重点实验室开放课题研究基金更多>>
相关领域:电子电信金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 3篇无铅
  • 3篇无铅焊
  • 2篇无铅焊点
  • 2篇焊点
  • 1篇低银
  • 1篇印刷性
  • 1篇失效模式
  • 1篇无铅焊膏
  • 1篇焊膏
  • 1篇SNAGCU

机构

  • 3篇北京工业大学
  • 2篇哈尔滨工业大...

作者

  • 3篇雷永平
  • 3篇林健
  • 3篇杨金丽
  • 2篇张寒
  • 1篇肖慧

传媒

  • 2篇电子元件与材...
  • 1篇材料工程

年份

  • 1篇2013
  • 2篇2012
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
低银SnAgCu系无铅焊膏的板级工艺适应性研究被引量:5
2012年
新开发了G-SAC105和G-SAC0307两种低银无铅焊膏,对其进行了板级封装的工艺适应性研究。结果表明,在(25±5)℃和120℃环境下,两种焊膏塌落度均为0.15 mm,在150℃环境下放置时,塌落度均为0.20 mm,都具有较好的抗热塌陷性,银含量的降低并不会影响焊膏的塌落度;焊膏印刷质量良好,焊后焊点光亮、饱满,未出现气孔或飞溅现象;焊态下G-SAC105和G-SAC0307金属间化合物厚度比较接近,均小于SAC305。
张寒雷永平林健杨金丽
关键词:印刷性
银含量对跌落条件下无铅焊点疲劳寿命和失效模式的影响
2013年
对3种不同Ag含量材料(Sn-3.0Ag-0.5Cu,Sn-1.0Ag-0.5Cu,Sn-0.3Ag-0.7Cu)的焊点进行跌落实验,实验中施加的加速度载荷为峰值3200g,脉冲持续时间1ms的半正弦波形加速度,利用电学测试、光学显微镜和扫描电子显微镜确定了失效的焊点并对失效焊点进行分析。结果表明:3种材料焊点的失效位置基本都在靠近印刷电路板(PCB)侧,BAG封装最外围4个拐角处的焊点最先失效。Sn-3.0Ag-0.5Cu,Sn-1.0Ag-0.5Cu焊点的失效模式均为脆性断裂,Sn-0.3Ag-0.7Cu为韧-脆混合断裂。且随着Ag含量的降低,金属间化合物(IMC)的厚度逐渐减小,焊点的寿命逐渐提高。
杨金丽雷永平林健肖慧
银含量对随机振动条件下无铅焊点可靠性的影响被引量:4
2012年
为了探究银含量对无铅焊点在随机振动条件下的可靠性的影响,对Sn-3.0Ag-0.5Cu、Sn-1.0Ag-0.5Cu和Sn-0.3Ag-0.7Cu三种不同Ag含量材料的焊点做窄带范围内的随机振动疲劳实验,并对失效焊点进行分析。结果表明:三种材料焊点的失效位置基本都在靠近PCB侧,最外围焊点最容易失效,失效模式均为脆性断裂,并且随着Ag含量的降低,金属间化合物的厚度逐渐减小,焊点的疲劳寿命逐渐延长。
杨金丽雷永平林健张寒
关键词:无铅焊点
共1页<1>
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