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张兴

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：重庆邮电大学光电工程学院更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇噪声
  • 1篇可靠性
  • 1篇辐照
  • 1篇爆裂噪声

机构

  • 1篇重庆邮电大学
  • 1篇重庆光电技术...

作者

  • 1篇邹泽亚
  • 1篇王品红
  • 1篇曹飞
  • 1篇陈春霞
  • 1篇张兴
  • 1篇李祖安
  • 1篇但伟

传媒

  • 1篇半导体光电

年份

  • 1篇2011
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
光电探测器组件辐照后性能退化的噪声表征
2011年
本文用爆裂噪声表征总剂量电离辐射(TID)对光电探测器组件的损伤情况。通过对辐照前后的光电探测器组件进行噪声测试,然后对比分析其结果。实验结果表明,总剂量辐照后,相对于辐照前,光电探测器组件内部明显出现了爆裂噪声,即组件内部出现了大量缺陷,导致组件的可靠性降低。
张兴王品红但伟曹飞陈春霞邹泽亚李祖安
关键词：爆裂噪声可靠性
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共1页<1>
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