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文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 4篇电子电信

主题

  • 2篇电离
  • 2篇辐照
  • 1篇电隔离
  • 1篇电离辐射
  • 1篇电器
  • 1篇噪声
  • 1篇失效模式
  • 1篇线性隔离放大...
  • 1篇漏电
  • 1篇开关
  • 1篇开关设计
  • 1篇抗辐射
  • 1篇抗辐射加固
  • 1篇可靠性
  • 1篇继电器
  • 1篇隔离放大器
  • 1篇固体继电器
  • 1篇光电隔离
  • 1篇光电隔离器
  • 1篇放大器

机构

  • 4篇重庆光电技术...
  • 1篇重庆邮电大学
  • 1篇四川压电与声...

作者

  • 4篇陈春霞
  • 4篇李祖安
  • 3篇张佳宁
  • 3篇徐道润
  • 2篇龙平
  • 1篇龚磊
  • 1篇邹泽亚
  • 1篇王品红
  • 1篇曹飞
  • 1篇李冰
  • 1篇张雷
  • 1篇曾铮
  • 1篇张兴
  • 1篇王君
  • 1篇成精折
  • 1篇郭艳春
  • 1篇但伟
  • 1篇陈倩

传媒

  • 4篇半导体光电

年份

  • 2篇2014
  • 1篇2012
  • 1篇2011
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
光MOS固体继电器抗电离辐射研究
2012年
分析了光MOS固体继电器在电离辐照条件下的失效模式,并针对组成器件的不同元器件提出了抗辐射的设计方案。采取了包括优化材料、合理设计器件结层厚度、选用抗辐射能力强的钝化膜等工艺技术制作样品,并通过试验对比确认了抗辐射方案的有效性,结果表明,器件抗辐照能力大于30krad(Si),能够满足对星用光MOS固体继电器抗辐射能力的要求。
李祖安郭艳春陈春霞龙平张佳宁徐道润张雷陈倩
关键词:电离辐射失效模式抗辐射加固
光电探测器组件辐照后性能退化的噪声表征
2011年
本文用爆裂噪声表征总剂量电离辐射(TID)对光电探测器组件的损伤情况。通过对辐照前后的光电探测器组件进行噪声测试,然后对比分析其结果。实验结果表明,总剂量辐照后,相对于辐照前,光电探测器组件内部明显出现了爆裂噪声,即组件内部出现了大量缺陷,导致组件的可靠性降低。
张兴王品红但伟曹飞陈春霞邹泽亚李祖安
关键词:爆裂噪声可靠性
光电线性隔离放大器的电离辐照特性
2014年
阐述了线性隔离放大器(线性光电耦合器)的工作原理,设计了线性隔离放大器的电离辐照试验,研究了线性隔离放大器的电离辐照效应,针对其结果进行了机理分析。
陈春霞陈向正李祖安张佳宁徐道润曾铮龚磊成精折
关键词:线性隔离放大器电离辐照
低漏电常闭型光电隔离开关设计
2014年
研制了一种新型的低漏电常闭型光电隔离开关。介绍了该光电隔离开关的工作原理、参数设计。通过特别的结构设计实现了对微小漏电流的控制,并对其进行了工艺改进,提高了器件可靠性。器件测试结果显示,参数指标达到设计值,从而验证了设计的有效性。
李祖安张佳宁陈春霞龙平徐道润李冰王君
关键词:光电隔离器
共1页<1>
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