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刘扬

作品数:2 被引量:0H指数:0
供职机构:北京电子工程总体研究所更多>>

文献类型

  • 2篇中文专利

主题

  • 2篇点目标
  • 2篇武器
  • 2篇武器系统
  • 2篇激光
  • 2篇激光光斑
  • 2篇光斑
  • 2篇非合作
  • 2篇成像器
  • 1篇弹体
  • 1篇标定方法

机构

  • 2篇北京电子工程...

作者

  • 2篇张乃文
  • 2篇刘扬

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2016
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
一种复合探测系统基准轴偏差标定方法和标定系统
本发明公开一种复合探测系统基准轴偏差标定方法和标定系统,具体步骤为:将武器系统弹体坐标系作为参考坐标系;使固定于行架上的点目标与来自激光测距仪的激光光斑重合,成像器和激光测距仪分别对点目标进行测量,计算出成像器基准轴和激...
张乃文刘扬
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一种复合探测系统基准轴偏差标定方法和标定系统
本发明公开一种复合探测系统基准轴偏差标定方法和标定系统,具体步骤为:将武器系统弹体坐标系作为参考坐标系;使固定于行架上的点目标与来自激光测距仪的激光光斑重合,成像器和激光测距仪分别对点目标进行测量,计算出成像器基准轴和激...
张乃文刘扬
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共1页<1>
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