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夏春梅

作品数:1 被引量:2H指数:1
供职机构:西安交通大学能源与动力工程学院核科学与技术系更多>>
发文基金:教育部“新世纪优秀人才支持计划”更多>>
相关领域:核科学技术电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇核科学技术

主题

  • 1篇软错误
  • 1篇静态存储器
  • 1篇Α源
  • 1篇存储器

机构

  • 1篇西安交通大学
  • 1篇华为技术有限...

作者

  • 1篇张卫卫
  • 1篇李晓林
  • 1篇夏春梅
  • 1篇肖江波
  • 1篇王宏全
  • 1篇任学明
  • 1篇褚俊
  • 1篇贺朝会
  • 1篇杨秀培

传媒

  • 1篇原子能科学技...

年份

  • 1篇2006
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
应用α源评估静态存储器的软错误被引量:2
2006年
存储器的软错误直接关系到产品的可靠性,为比较3种器件的抗软错误能力,实验测量了3种静态存储器(SRAM)的单粒子翻转错误数,计算了单粒子翻转截面和失效率。从单粒子翻转截面角度讲,A166M器件抗α粒子的能力最好,其次为B166M,最差是B200M。从失效率的角度讲,B166M的平均失效率比B200M的小,且两者都比A166M的小。
贺朝会杨秀培张卫卫褚俊任学明夏春梅王宏全肖江波李晓林
关键词:Α源静态存储器软错误
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