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任学明

作品数：2 被引量：3H指数：1
供职机构：西安交通大学能源与动力工程学院更多>>
发文基金：教育部“新世纪优秀人才支持计划”更多>>
相关领域：核科学技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 2篇核科学技术

主题

  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子翻转
  • 1篇单粒子翻转率
  • 1篇软错误
  • 1篇小样本
  • 1篇静态存储器
  • 1篇Α源
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体器件
  • 1篇存储器

机构

  • 2篇西安交通大学
  • 1篇华为技术有限...

作者

  • 2篇任学明
  • 2篇贺朝会
  • 1篇张卫卫
  • 1篇李晓林
  • 1篇夏春梅
  • 1篇肖江波
  • 1篇王宏全
  • 1篇褚俊
  • 1篇杨秀培

传媒

  • 2篇原子能科学技...

年份

  • 1篇2009
  • 1篇2006
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
应用α源评估静态存储器的软错误被引量：2
2006年
存储器的软错误直接关系到产品的可靠性，为比较3种器件的抗软错误能力，实验测量了3种静态存储器（SRAM）的单粒子翻转错误数，计算了单粒子翻转截面和失效率。从单粒子翻转截面角度讲，A166M器件抗α粒子的能力最好，其次为B166M，最差是B200M。从失效率的角度讲，B166M的平均失效率比B200M的小，且两者都比A166M的小。
贺朝会杨秀培张卫卫褚俊任学明夏春梅王宏全肖江波李晓林
关键词：Α源静态存储器软错误
空间轨道单粒子翻转率预估的小样本法被引量：1
2009年
通过对半导体器件翻转截面与重离子LET值的关系曲线的拟合,结合FOM方法和具体空间轨道环境,在Bayes理论的基础上,提出了小样本情况下预估同类半导体器件在空间轨道上的单粒子翻转率的新方法。应用该方法,预估了小样本情况下同一批次器件在空间轨道上的单粒子翻转率及一定置信度下的翻转率预估区间。
任学明贺朝会
关键词：半导体器件单粒子翻转率小样本
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