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  • 2篇中文期刊文章

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机构

  • 2篇北京有色金属...

作者

  • 2篇刘莉
  • 1篇刘嘉禾
  • 1篇吴瑞华
  • 1篇罗志强
  • 1篇王世昌
  • 1篇秦福

传媒

  • 1篇Journa...
  • 1篇稀有金属

年份

  • 1篇1999
  • 1篇1998
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
非晶硅在硅片吸除技术中的应用研究
1998年
本文研究了一种新的、具有实际应用价值的硅片吸除技术.该技术包括利用PECVD法在腐蚀硅片背面沉积400~800nm厚的非晶硅膜,再经过650~680℃温度的热处理,使沉积膜与硅片结合更牢固,之后,把硅片进行抛光.结果表明,该技术能有效地消除硅抛光片表面的雾缺陷,同时硅片表面层少子寿命可提高2~4倍.
刘莉秦福
关键词:半导体硅片非晶硅PECVD法吸除技术
硅薄膜的热丝法淀积被引量:15
1999年
系统地研究了热丝化学气相沉积技术中沉积气压、气体流量、钨丝温度、衬底温度对硅薄膜的结构、生长速率和光电性能的影响。通过优化各工艺参数。
罗志强吴瑞华刘莉王世昌刘嘉禾
关键词:热丝法非晶硅薄膜多晶硅薄膜PECVD
共1页<1>
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