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汤敏燕

作品数:3 被引量:2H指数:1
供职机构:上海大学材料科学与工程学院更多>>
发文基金:中国航空科学基金上海市教育委员会重点学科基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:航空宇航科学技术理学更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇专利

领域

  • 1篇航空宇航科学...
  • 1篇理学

主题

  • 1篇氮化硼薄膜
  • 1篇射频磁控
  • 1篇射频磁控溅射
  • 1篇升华
  • 1篇温下
  • 1篇无机非金属
  • 1篇无机非金属材...
  • 1篇小尺寸
  • 1篇小尺度
  • 1篇立方氮化硼薄...
  • 1篇金刚石薄膜
  • 1篇禁带
  • 1篇禁带宽度
  • 1篇溅射
  • 1篇焊点
  • 1篇焊点可靠性
  • 1篇非金属材料
  • 1篇封装
  • 1篇薄型
  • 1篇SUB

机构

  • 3篇上海大学
  • 1篇复旦大学

作者

  • 3篇汤敏燕
  • 3篇徐闰
  • 2篇王林军
  • 1篇徐海涛
  • 1篇乐永康
  • 1篇黄健
  • 1篇张旭
  • 1篇贡伟明
  • 1篇冯健
  • 1篇钱佳民

传媒

  • 1篇人工晶体学报
  • 1篇上海大学学报...

年份

  • 2篇2012
  • 1篇2009
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
小尺度薄型封装焊点失效机理和可靠性设计被引量:1
2012年
通过实验研究了印刷电路板(print circuit board,PCB)设计对小尺寸薄型封装(thin small outline package,TSOP)焊点可靠性的影响.实验制作了包含引脚焊盘的长度、焊盘的表面处理方式及背靠背的双面贴装偏移量3种设计参数的可靠性测试板,并采用表面贴装工艺(surface mount technology,SMT)将TSOP器件焊接到测试板上;经-40~85℃的高低温循环试验后,收集了TSOP引脚焊点裂纹的生长数据;讨论了焊点失效的机理,相应考虑了2种可靠性判断准则,并对各参数条件下的裂纹数据进行比较.结果表明,长尺寸焊盘、有机保焊膜(organic solderability preservatives,OSP)及不对称的两面布置方式有助于提高TSOP引脚的焊点可靠性.
钱佳民徐闰汤敏燕
关键词:焊点可靠性
室温下金刚石薄膜上沉积立方氮化硼薄膜的研究被引量:1
2009年
采用射频磁控溅射技术分别在纳米与微米金刚石薄膜上制备立方氮化硼(c-BN)薄膜。金刚石薄膜由拉曼光谱(Raman)及原子力显微镜(AFM)进行表征。采用傅立叶变换红外光谱(FTIR)研究了不同沉积温度对c-BN薄膜生长的影响,结果表明在金刚石薄膜上生长c-BN不存在温度阈值,室温下生长的c-BN含量可达70%以上。当沉积温度由室温向上升高时,对于纳米金刚石薄膜衬底上生长的BN薄膜而言,其中的立方相含量反而逐渐降低。此外,随着沉积温度的降低,c-BN对应的峰位向低波数方向偏移的现象表明低温下生长的c-BN薄膜内应力较小。文中探讨了产生此现象的原因。
冯健徐闰汤敏燕张旭乐永康王林军
关键词:金刚石薄膜射频磁控溅射
一种生长可变禁带宽度的Cd<Sub>1-x</Sub>Zn<Sub>x</Sub>Te薄膜的方法
本发明涉及的是一种Cd<Sub>1-x</Sub>Zn<Sub>x</Sub>Te(CZT)薄膜的制备方法,属于无机非金属材料器件制造工艺领域。其中CZT薄膜制备方法是:采用掺少量Zn(x小于1%)的Cd<Sub>1-x...
王林军徐闰贡伟明汤敏燕徐海涛黄健
文献传递
共1页<1>
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