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文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 2篇理学

主题

  • 3篇流体静压力
  • 3篇静压力
  • 2篇HG
  • 2篇CD
  • 1篇深能级
  • 1篇能级
  • 1篇吸收光谱
  • 1篇硫化
  • 1篇硫化锰
  • 1篇硫化镉
  • 1篇光电
  • 1篇光电二极管
  • 1篇光谱
  • 1篇二极管
  • 1篇伏安特性
  • 1篇N^+
  • 1篇P-N结
  • 1篇XS
  • 1篇HGCDTE
  • 1篇MN

机构

  • 4篇中国科学院

作者

  • 4篇李齐光
  • 3篇姜山
  • 2篇沈学础
  • 1篇陆卫
  • 1篇汤定元
  • 1篇朱浩荣
  • 1篇陈泉森
  • 1篇童斐明

传媒

  • 1篇Journa...
  • 1篇物理学报
  • 1篇红外研究

年份

  • 3篇1990
  • 1篇1989
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
Cd_(1-x)Mn_xS高压吸收光谱
1989年
采用流体静压力,在室温和低温下测量了三元混晶半磁半导体Cd_(1-x)Mn_xS的吸收光谱.室温下获得了Cd_(1-x)Mn_xS光吸收边的一阶和二阶压力系数,并且在吸收边尾部发现一个大的吸收带尾,随着组分x增加,压力系数下降,带尾增强,同时在高压下观察了Cd_(1-x)Mn_xS的压力相变过程.在77K下,高组分混晶Cd_0.67Mn_0.33S吸收光谱中出现两个Mn^(2+)吸收峰,测量了它们的压力系数,并用晶体场理论讨论了实验结果.
姜山沈学础李齐光朱浩荣居广林W.Giriat
关键词:吸收光谱硫化镉硫化锰
流体静压力下半导体性质的研究
李齐光
流体静压力下Hg_(1-x)Cd_xTe p-n结的伏安特性
1990年
在77K和室温下,研究了Hg_(1-x)Cd_xTe(x=0.5)p—n结伏安特性随流体静压力的变化,从中得到了禁带宽度E_g的压力系数。结果表明,在低压范围(01.4GPa),E_g~P关系明显偏离线性。实验还观察到,在正、反向小偏压区域,I—V特性随压力的变化呈现“反常”行为。
李齐光姜山袁皓心陈泉森沈学础
关键词:HGCDTEP-N结流体静压力伏安特性
Hg_(1-x)Cd_xTe n^+-p光电二极管中的深能级及其电流机构的流体静压力研究被引量:1
1990年
在流体静压力(0—2GPa)下,对Hg_(1-x)Cd_xTe n^+-p光电二极管(x=0.5)室温电学特性进行了实验和理论研究。通过考虑深能级压力效应及其对深能级辅助隧道电流的影响,较好地解释了实验上观察到的p-n结伏安特性在小偏压范围下呈现的“反常”压力关系。由对实验数据的理论拟合得到两个深能级:D_l(=E_v+0.75E_g)和D_l(=E_v+0.5E_g),以及相应的电子寿命和空穴寿命,并得到了未掺杂Hg_(1-x)Cd_xTe中深能级的压力系数。
袁皓心李齐光姜山陆卫童斐明汤定元
关键词:静压力光电二极管
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