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渭南师范学院物理与电气工程学院陕西省X射线检测与应用研究开发中心

作品数：2 被引量：2H指数：1
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相关机构

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇单片
  • 1篇单片机
  • 1篇增益
  • 1篇增益饱和
  • 1篇增益饱和效应
  • 1篇输出功率
  • 1篇数字芯片
  • 1篇透射
  • 1篇透射率
  • 1篇最大输出功率
  • 1篇芯片
  • 1篇连续激光
  • 1篇连续激光器
  • 1篇逻辑功能
  • 1篇激光
  • 1篇激光器
  • 1篇功率

机构

  • 2篇渭南师范学院

作者

  • 1篇秦玉伟
  • 1篇王菊霞

传媒

  • 1篇计量技术
  • 1篇激光杂志

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2015
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
连续激光器出射镜透射率对输出功率的影响
2015年
利用大信号增益饱和效应,研究了均匀加宽介质和非均匀加宽介质两种情况下出射镜透射率对输出功率的影响。通过计算得出了最大输出功率与最佳透射率的普适数学表达式、常用参数对照表等一系列理论结果,由此可获得最佳透射率的条件,将为实验工作提供可靠的理论依据,从而达到保证输出激光质量前提下提高输出功率的目的。
王菊霞
关键词：连续激光器增益饱和效应最大输出功率
一种简易的智能数字芯片检测装置被引量：2
2016年
针对实验教学过程中数字芯片型号识别和内部故障等问题，设计了一种基于MSP430系列单片机的低功耗智能数字芯片检测装置。利用布尔函数关系式建立了故障集，并对测试芯片生成测试向量，通过单片机编写待测芯片逻辑功能的测试程序，用单片机I／O对待测芯片的逻辑功能进行检测，并将检测结果与存储的芯片逻辑功能进行对比，判断待测芯片是否存在故障。实验结果表明，该装置能够实现对双列直插式数字芯片的快速检测，并显示数字芯片型号或故障，具有体积小、检测速度快，使用方便等优点。
秦玉伟
关键词：数字芯片单片机逻辑功能
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