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徐静
供职机构:中国电子科技集团第五十八研究所
研究主题:SOI 反熔丝 抗辐射 CMOS工艺 总剂量辐射
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
肖志强
供职机构:电子科技大学
研究主题:SOI 互联 抗辐射 总剂量 LDMOS
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
洪根深
供职机构:中国电子科技集团第五十八研究所
研究主题:抗辐射 反熔丝 总剂量 单粒子 SOI
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
高向东
供职机构:中国电子科技集团第五十八研究所
研究主题:SOI 总剂量辐射 抗辐射 总剂量 反熔丝
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
罗小蓉
供职机构:电子科技大学
研究主题:导通压降 关断损耗 槽栅 LIGBT SOI
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
周淼
供职机构:中国电子科技集团第五十八研究所
研究主题:SOI 总剂量辐射 击穿电压 SOI_LDMOS 比导通电阻
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
洪根生
供职机构:中国电子科技集团第五十八研究所
研究主题:反熔丝 微电子 熔丝 衬底 掩蔽层
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
高唤梅
供职机构:电子科技大学
研究主题:SOI 材料制备技术 半导体 厚膜 功率集成电路
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
张伟
供职机构:电子科技大学
研究主题:井下 测井仪 声波 测井数据 干扰信号
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
王栋
供职机构:中国电子科技集团第五十八研究所
研究主题:反熔丝 冷备份 背栅效应 背栅 负电压
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
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