您的位置： 专家智库 > >

庄仲

作品数：29 被引量：0H指数：0
供职机构：中国空间技术研究院更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信电气工程金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 29篇中文专利

领域

  • 6篇自动化与计算...
  • 4篇电子电信
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇电气工程

主题

  • 12篇电路
  • 7篇老炼
  • 6篇信号
  • 5篇芯片
  • 4篇选择器
  • 4篇FPGA芯片
  • 3篇电路板
  • 3篇电位器
  • 3篇电源
  • 3篇电阻
  • 3篇试验电路
  • 3篇数控电位器
  • 3篇数字电路
  • 3篇数字电路板
  • 3篇自动化
  • 3篇自动化控制
  • 3篇接口
  • 3篇可调电阻
  • 3篇控制信号
  • 3篇便携

机构

  • 29篇中国空间技术...

作者

  • 29篇庄仲
  • 20篇杨发明
  • 19篇王贺
  • 18篇张大宇
  • 18篇张松
  • 14篇丛山
  • 14篇匡潜玮
  • 8篇宁永成
  • 7篇张红旗
  • 7篇汪悦
  • 5篇李璇
  • 4篇汪洋
  • 3篇蒋承志
  • 2篇朱恒静
  • 2篇贾晓
  • 2篇王雪生
  • 1篇刘敏
  • 1篇祝名
  • 1篇张延伟
  • 1篇韩晓东

年份

  • 7篇2025
  • 4篇2024
  • 2篇2023
  • 4篇2022
  • 2篇2021
  • 5篇2020
  • 2篇2019
  • 1篇2018
  • 2篇2017
共 29 条 记 录，以下是 1-10
全选 清除 导出
排序方式：
一种防结霜的通用型热流仪密封测试转换工装
本发明涉及一种防结霜的通用型热流仪密封测试转换工装，包括硬性圆筒形壳体、可调型卡箍、软性漏斗型耐温硅胶和带裙边塔状回型接口，软性漏斗型耐温硅胶用于包裹热流仪出气口，并连接带裙边塔状回型接口；将软性漏斗型耐温硅胶套入硬性圆...
庄仲张靓杨发明于福利贾子健王锦朱春林匡潜玮丛山
文献传递
一种1553B伪终端测试装置
本发明涉及一种1553B总线安全性测试装置，包括一个BC节点、两个RT节点、一个MT节点以及一个伪装节点。伪装节点接入总线，同时伪装节点能够动态切换BC模式和RT模式，在BC模式时，伪装节点发出与正常BC节点不同的数据，...
万旺屈若媛庄仲张大宇张松祝名张延伟
一种宇航用元器件老炼试验器件监测系统及方法
本发明提供了一种宇航用元器件老炼试验器件监测系统及方法，包括基准信号模块、监测信号采集模块、信号比较模块、信号转换模块、信号增强模块、显示模块、控制模块、电源模块和系统保护模块；信号比较模块对基准信号模块输入的基准信号和...
杨发明张红旗李冠军庄仲杨彦朝匡潜玮常明超丛山张松王贺
一种大规模数字集成电路的板方式程控电压拉偏试验电路
本实用新型涉及一种大规模数字集成电路的板方式程控电压拉偏试验电路，包括电源模块、第一数控电位器、第二数控电位器、第一继电器、第二继电器、第三继电器、第一电阻、第二电阻、第三电阻、指令控制模块，电源模块的第一控制端与第一数...
王贺张大宇汪悦张红旗张松李剑焘崔华楠杨彦朝庄仲吉美宁
一种SiP工艺可靠性评估试验载体的特性表征方法
一种SiP工艺可靠性评估试验载体的特性表征方法，通过PFMECA分析SiP产品的关键工艺，根据风险要素分析关键结构，从而确定试验载体的需要包含的工艺域，再基于失效物理方法或定性分析方法确定试验载体的特性表征参数数值，能够...
匡潜玮张靓谷瀚天朱恒静宁永成丛山王贺张大宇张科辉庄仲
一种信号源系统
本发明公开了一种信号源系统，包括：基准信号源模块，用于产生精密基准信号；滤波电路模块，用于对精密基准信号进行滤波处理，输出滤波处理后的单路精密基准信号；多通道信号模块，用于将滤波处理后的单路精密基准信号转换为20通道的异...
杨发明杨彦朝庄仲匡潜玮常明超张松王贺张大宇丛山张靓
文献传递
一种芯片防结霜的自动下料机构
本申请公开了一种芯片防结霜的自动下料机构，涉及元器件低温电性能测试领域，包括通过太空舱结构在低温箱内通入干燥的低温氮气，保持低温环境不易结霜，转动圆盘机构存储待测器件，控制台控制转动圆盘的待取芯片盒旋转至手孔一侧，且控制...
王锦杨彦朝贾晓庄仲张乐平杨发明李伟英董浩威王雪生贾子健
一种大规模数字集成电路的板方式程控电压拉偏试验电路
本发明涉及一种大规模数字集成电路的板方式程控电压拉偏试验电路，包括电源模块、第一数控电位器、第二数控电位器、第一继电器、第二继电器、第三继电器、第一电阻、第二电阻、第三电阻、指令控制模块，电源模块的第一控制端与第一数控电...
王贺张大宇汪悦张红旗张松李剑焘崔华楠杨彦朝庄仲吉美宁
一种嵌入式TDP RAM模块测试电路与测试方法
本发明涉及一种嵌入式TDP RAM模块测试电路，包括N个结构相同的测试单元、时钟信号、地址信号、第一数据输入信号、第二数据输入信号、数据输出信号、写使能信号、第一使能信号、第二使能信号、选择器控制信号与寄存器控制信号；每...
王贺张松汪悦张大宇汪洋崔华楠李剑焘庄仲吉美宁杨彦朝
一种FPGA芯片中查找表的检测电路及检测方法
本发明提供一种FPGA芯片中查找表的检测电路及检测方法，所述FPGA芯片包括N个可配置逻辑块，每个所述可配置逻辑块包含两个切片，两个切片中均具有M个查找表，其中一个切片为被测电路，另一个切片为检测电路，所述检测电路包括：...
王贺张大宇张松宁永成蒋承志杨彦朝杨发明庄仲
文献传递
全选 清除 导出
共3页<123>
聚类工具0