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李长龙

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：教育部更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇应力-强度干...
  • 1篇可靠性
  • 1篇可靠性分析
  • 1篇ANSYS
  • 1篇LS-DYN...

机构

  • 1篇教育部

作者

  • 1篇马喜宏
  • 1篇刘俊
  • 1篇李长龙
  • 1篇孙韬

传媒

  • 1篇科学技术与工...

年份

  • 1篇2012
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排序方式：
高量程加速度计测试电路板的可靠性分析
2012年
测试电路是高量程加速度计的重要组成部分,其抗冲击能力直接影响高量程加速度计的可靠性。在理论分析高量程加速度计测试电路在冲击环境下的失效模式与机理的基础上,运用ANSYS/LS-DYNA对测试电路的抗过载能力进行了模拟仿真。完成了测试电路在0—40 000 g范围内的冲击测试。试验结果发现在19 750 g的冲击下电路失效。并且对电路板的可靠性采用应力—强度干涉模型进行评估。
李长龙马喜宏刘俊孙韬
关键词：ANSYSLS-DYNA应力-强度干涉模型
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