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邬健

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：电子工程学院更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇多径
  • 1篇多径衰落
  • 1篇自适
  • 1篇自适应
  • 1篇伪码
  • 1篇伪码捕获
  • 1篇码捕获
  • 1篇抗多径
  • 1篇抗多径衰落
  • 1篇检测法
  • 1篇CFAR

机构

  • 1篇电子工程学院

作者

  • 1篇吴祖国
  • 1篇邬健

传媒

  • 1篇国外电子测量...

年份

  • 1篇2010
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
自适应伪码捕获中的一种CFAR检测法
2010年
基于传统恒虚警检测提出一种自适应伪随机码捕获系统的删除恒虚警检测概率模型。删除滑动窗中超过预先设置的删除门限的强信号分量,余下的分量取平均形成判决门限,只要删除门限设置合适,该模型抗多径效应的性能便较传统方法有较好改善。分别比较了该新模型与传统模型在均匀噪声和多径干扰下的性能,得到该新模型适用于低信噪比、低耗的快速自适应PN码捕获系统的结论。
邬健吴祖国
关键词：抗多径衰落
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共1页<1>
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