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高灿

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：北京工业大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇语句
  • 2篇统计测试
  • 2篇网表
  • 2篇分析方法
  • 1篇系统集成
  • 1篇系统集成芯片
  • 1篇芯片
  • 1篇集成芯片
  • 1篇SOC

机构

  • 3篇北京工业大学

作者

  • 3篇高灿
  • 2篇彭晓宏
  • 2篇汪金辉
  • 2篇耿淑琴
  • 2篇侯立刚
  • 2篇赵未

年份

  • 1篇2019
  • 2篇2016
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
基于关键路径覆盖率分析的SoC快速验证方法研究
随着集成电路设计的发展，验证工作越来越成为数字集成电路，特别是SoC设计中最重要的工作之一。本文通过分析目前集成电路设计的发展情况及当前的验证流程，发现验证流程中动态仿真耗时较长成为制约验证效率的瓶颈之一，而静态时序分析...
高灿
关键词：系统集成芯片
一种电路路径的测试覆盖率分析方法
本发明涉及一种电路路径的测试覆盖率分析方法，内容分为识别电路路径、提取电路路径、加入监测语句、进行二次前仿真、统计测试文件群覆盖率，识别电路路径、提取电路路径、加入监测语句、进行二次前仿真、统计测试文件群覆盖率依次进行，...
侯立刚高灿赵未彭晓宏耿淑琴汪金辉
文献传递
一种电路路径的测试覆盖率分析方法
本发明涉及一种电路路径的测试覆盖率分析方法，内容分为识别电路路径、提取电路路径、加入监测语句、进行二次前仿真、统计测试文件群覆盖率，识别电路路径、提取电路路径、加入监测语句、进行二次前仿真、统计测试文件群覆盖率依次进行，...
侯立刚高灿赵未彭晓宏耿淑琴汪金辉
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