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蔡志刚

作品数：5 被引量：12H指数：2
供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术经济管理更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇经济管理

主题

  • 1篇等效性
  • 1篇低压差
  • 1篇电路
  • 1篇电源
  • 1篇电子元
  • 1篇电子元器件
  • 1篇元器件
  • 1篇智能IC卡
  • 1篇闪存
  • 1篇扇区
  • 1篇综合评价
  • 1篇耐久
  • 1篇集成电路
  • 1篇过程能力指数
  • 1篇非接触
  • 1篇非接触式
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体集成
  • 1篇FLASH存...
  • 1篇FLASH存...

机构

  • 5篇信息产业部电...

作者

  • 5篇蔡志刚
  • 2篇罗宏伟
  • 2篇王小强
  • 2篇罗军
  • 1篇吴琦
  • 1篇王小强
  • 1篇焦慧芳
  • 1篇魏建中
  • 1篇唐莎
  • 1篇吕宏峰
  • 1篇孙宇
  • 1篇支越
  • 1篇尚斌
  • 1篇唐锐

传媒

  • 2篇中国测试
  • 1篇电子产品可靠...
  • 1篇质量与可靠性

年份

  • 2篇2018
  • 1篇2017
  • 1篇2016
  • 1篇2004
共 5 条 记 录，以下是 1-5
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排序方式：
Flash存储器并行耐久测试方法被引量：5
2016年
传统闪存(Flash)芯片耐久测试需要对整块芯片按扇区串行进行擦写测试,测试时间长、效率低、成本高,不利于其批量耐久测试和产业化发展。该文基于"资源换速度"的思想提出一种高效的Flash存储器并行耐久测试方法,通过对多片Flash芯片并行进行擦写测试,对不同芯片擦写不同扇区来提升其耐久测试效率,并进一步对耐久测试Flash芯片的不同扇区等效性进行分析,对等效性需要满足的条件和要求进行探讨。实验结果表明:并行耐久测试能有效缩短测试时间,其效率提升程度与并行测试的芯片数量成正比,加速测试结果与理论曲线符合较好。
罗军王小强蔡志刚孙宇吕宏峰
关键词：闪存并行测试
基于过程能力指数的电子元器件质量一致性综合评价方法被引量：2
2018年
电子元器件产品质量的一致性是电子装备系统质量性能的重要基础。通过系统分析电子元器件质量性能一致性的影响因素,构建多层次的电子元器件质量的一致性评价指标体系,建立了基于过程能力指数的质量一致性综合评价模型和判据体系,为定量评价电子元器件质量的一致性提供了技术手段,可以为研制单位改进提升电子元器件质量的一致性,以及整机用户单位择优选择元器件提供技术支撑。
余永涛王小强支越罗宏伟蔡志刚
关键词：电子元器件综合评价过程能力指数
非接触式近耦合智能IC卡及其检测
非接触式智能IC卡用途多样,使用方便,已经成为IC卡发展的一个趋势,并且相关的国际标准已经相继推出,国内已经在大力推广,其测试市场前景非常良好。IC卡的测试要求和测试设备是完成测试工作所必须了解的两个方面,本文对此作一个...
蔡志刚魏建中吴琦焦慧芳
半导体集成电路电源拉偏测试研究被引量：2
2018年
半导体集成电路产品的详细规范或数据手册中一般都规定了电源拉偏要求。为了达到该要求,一般而言,IC产品的测试应覆盖电源电压规定的范围,直观的解决方案就是在所有可能的电源电压条件下对所有的参数进行测试和验证。但是在实现过程中,考虑到测试效率和测试成本等因素,需要确定不同门类产品各类参数的最坏电源电压条件,从而进行针对性的拉偏测试,用于提高测试效率并降低成本。
周圣泽唐莎唐锐蔡志刚罗宏伟
关键词：集成电路
低压差线性电压调整器电源纹波抑制比测试方法被引量：3
2017年
低压差线性电压调整器应用广泛,电源纹波抑制比是反映其性能指标的关键参数之一。为解决传统电源纹波抑制比测试方法测量频率范围较小、测试效率低、难以满足高电源纹波抑制比测试等不足,提出基于功率分配器和低频网络分析仪相结合的电源纹波抑制比测试方法,并采用典型低压差线性电压调整器对基于功率分配器和基于电感电容总和节点法的两种测试方法进行测试验证。实验结果表明:基于功率分配器的电源纹波抑制比测试方法最低测试频率可达30 Hz,可满足70 d B以上电源纹波抑制比的测试需求,具有频率测量范围更宽、测试效率高等特点。
尚斌罗军蔡志刚王小强
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