您的位置: 专家智库 > >

周鑫延

作品数:2 被引量:5H指数:2
供职机构:华东理工大学机械与动力工程学院更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇倒装芯片
  • 2篇倒装芯片封装
  • 2篇下填充
  • 2篇芯片
  • 2篇芯片封装
  • 2篇封装
  • 1篇渗透率
  • 1篇数值仿真
  • 1篇数值模拟
  • 1篇牛顿流体
  • 1篇流场
  • 1篇仿真
  • 1篇非牛顿流体
  • 1篇值模拟

机构

  • 2篇华东理工大学

作者

  • 2篇王正东
  • 2篇姚兴军
  • 2篇周鑫延
  • 1篇张关华

传媒

  • 2篇半导体技术

年份

  • 2篇2013
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
倒装芯片封装中非牛顿流体下填充的数值仿真被引量:3
2013年
倒装芯片封装中的下填充工艺可以有效地提高封装连接的可靠性,因而得到了广泛应用。含有硅填料的环氧树脂是常用的下填充胶料,在下填充流动过程中表现出明显的非牛顿流体特性。利用Fluent软件对具有非牛顿流体特性胶料的下填充过程进行了三维数值模拟。采用流体体积比函数(VOF)对流动前沿界面进行追踪,再用连续表面张力(CSF)模型来计算下填充流动的毛细驱动力,并用幂函数本构方程来体现下填充胶料的非牛顿流体特性。通过数值模拟,获得了下填充流动前沿位置随时间变化的数据,这些数据与实验结果有较好的吻合度。该数值方法可较好地预测具有非牛顿流体性质胶料的下填充过程。
姚兴军张关华王正东章文俊周鑫延
关键词:倒装芯片下填充非牛顿流体
倒装芯片封装中下填充流场渗透率的数值分析被引量:2
2013年
倒装芯片封装中的下填充流场可以假设为多孔介质流场,其渗透率的求解对研究下填充流动过程至关重要。根据下填充流场所具有的周期性结构,通过单胞数值模拟的方法得到了下填充流场的渗透率。通过对渗透率数据的分析,发现了渗透率和下填充流场参数之间的关系,并建立了计算渗透率的幂律模型。其中幂律模型的底是下填充流场的孔隙率,系数仅与芯片和基板的间隙有关,指数仅与芯片和基板的间隙相对于焊球直径的比值有关。通过实例分析表明,与其他模型相比,用基于幂律模型的渗透率所计算出的填充时间更符合实验结果。
姚兴军周鑫延王正东章文俊
关键词:倒装芯片下填充渗透率数值模拟
共1页<1>
聚类工具0