熊吉
- 作品数：2 被引量：9H指数：2
- 供职机构：北京航空航天大学航空科学与工程学院更多>>
- 发文基金：中国航空科学基金国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学电子电信更多>>
- 电镀铜薄膜力学性能的实验研究被引量：6
- 2012年
- 电子器件中大量使用铜膜作为电信号通道,而且一般采用电镀工艺制成。铜膜的力学性能参数对于其热疲劳可靠性的研究非常重要。目前有关该材料的力学性能研究尚不充分,而且数据极为不统一。本文借助于纳米压痕法、声发射等实验手段对电镀铜薄膜的静态力学性能(包括弹性模量和屈服强度等)及疲劳性能进行了测试。结果发现,与大块铜材料相比,电镀铜薄膜的弹性模量低很多,但屈服强度与大块铜材料相当,甚至高出200%。同时,本文采用弯曲疲劳实验,以电阻变化为失效判据,对镀铜材料的疲劳性能进行了测试,获取了该材料不同失效判据下的疲劳寿命预测模型的系数。
- 苏飞张铮熊吉邵将
- 关键词：电镀铜纳米压痕法声发射力学性能
- 微焊点电致损伤与断裂的实验及数值研究被引量：3
- 2014年
- 本文制作了微焊点试件,并通过施加较大的电载荷使其发生了电迁移。对微焊点在电迁移过程中的微观组织形貌及其演化进行了观察。结果发现,高温和常温条件下的电致失效模式都是阴极处的界面断裂,但是低温条件下的迁移试件会在阳极处形成凸丘,而高温下则没有。此外,本文还测试了微焊点在电迁移过程中的电阻、温度场以及塑性变形,以期找到微焊点电致损伤的表征方法。实验表明,红外方法可以快速准确地发现焊点表面和内部的缺陷,而电阻值对微焊点的电致损伤并不敏感。最后本文采用有限元方法分析了微焊点的电致应力及空位浓度,较好地解释了微焊点电致失效的机制。
- 苏飞王渊李伟佳熊吉
- 关键词：电迁移可靠性
