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陈红纳

作品数：2 被引量：2H指数：1
供职机构：河北工业大学电气工程学院更多>>
发文基金：河北省科技计划项目国家自然科学基金国家科技支撑计划更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇IGBT
  • 1篇支持向量
  • 1篇支持向量机
  • 1篇神经网
  • 1篇神经网络
  • 1篇向量
  • 1篇向量机
  • 1篇门极
  • 1篇键合
  • 1篇键合线
  • 1篇功率模块
  • 1篇SVM
  • 1篇铝
  • 1篇IGBT模块

机构

  • 2篇河北工业大学

作者

  • 2篇李志刚
  • 2篇陈红纳
  • 2篇梅霜
  • 1篇刘向向
  • 1篇田盛

传媒

  • 1篇太阳能学报
  • 1篇电子技术应用

年份

  • 1篇2017
  • 1篇2016
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
IGBT模块键合线故障与门极杂散阻抗的关系研究被引量：2
2016年
键合线脱落是IGBT芯片一种普遍的失效形式,铝键合线故障在一定程度上会影响门极杂散阻抗。杂散阻抗的改变又会引起门极电信号的变化,因此通过门极测量信号的变化来表征其杂散阻抗的改变,进而判断IGBT芯片是否发生铝键合线脱落故障。对门极杂散阻抗与键合线故障之间的关系进行了研究,为识别IGBT模块铝键合线故障提供了依据。
陈红纳李志刚梅霜田盛
关键词：IGBT
基于饱和压降测量的功率模块老化模型研究
2017年
通过研究老化对功率模块IGBT状态参量的影响,提出一种基于功率模块IGBT的饱和压降测量的老化研究方法,即分别通过BP神经网络和支持向量机(SVM)对不同老化程度下、不同外电路条件下的饱和压降老化数据进行建模。建立老化模型可有效辨识IGBT模块内部老化程度,从而避免模块的完全失效及由此造成的装置损坏。
李志刚梅霜陈红纳刘向向
关键词：IGBT神经网络
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共1页<1>
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