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刘飞

作品数:6 被引量:5H指数:1
供职机构:中国科学院上海技术物理研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金中国科学院院地合作项目江苏省产学研联合创新资金项目更多>>
相关领域:电子电信理学更多>>

文献类型

  • 6篇中文期刊文章

领域

  • 5篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 2篇振动
  • 2篇振动噪声
  • 2篇探测器
  • 2篇光导
  • 2篇光电
  • 2篇P-I-N
  • 1篇氮化镓
  • 1篇电器件
  • 1篇噪声
  • 1篇噪声研究
  • 1篇声子
  • 1篇轴温
  • 1篇专用芯片
  • 1篇紫外探测
  • 1篇碲镉汞
  • 1篇温度
  • 1篇芯片
  • 1篇芯片设计
  • 1篇焦平面
  • 1篇光导器件

机构

  • 6篇中国科学院
  • 4篇中国科学院研...
  • 2篇中国科学院大...

作者

  • 6篇刘飞
  • 5篇李向阳
  • 3篇刘福浩
  • 2篇叶柏松
  • 1篇陈柳炼
  • 1篇王继强
  • 1篇许金通
  • 1篇林加木
  • 1篇罗毅
  • 1篇袁永刚
  • 1篇钱大憨
  • 1篇丁瑞军
  • 1篇张燕
  • 1篇贾嘉
  • 1篇沈晓
  • 1篇张立瑶
  • 1篇王立伟

传媒

  • 2篇红外与毫米波...
  • 1篇红外
  • 1篇激光与红外
  • 1篇半导体光电
  • 1篇传感器与微系...

年份

  • 2篇2014
  • 2篇2013
  • 1篇2011
  • 1篇2009
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
红外焦平面非均匀性校正ASIC芯片设计被引量:1
2009年
提出了一个基于ASIC的红外焦平面非均匀校正解决方案。首先介绍了改进的定标及校正算法,并对校正效果进行了验证。改进后的算法对存储单元的需求与原先相比大大减小,因此十分适合ASIC实现。然后介绍了芯片的架构和控制结构,最后介绍了芯片的实现。该芯片采用0.25μm工艺,对减小探测器系统体积,提高探测器系统的稳定性和可靠性有很大的帮助。
沈晓丁瑞军林加木刘飞
关键词:红外焦平面非均匀性校正专用芯片
GaN基p-i-n器件振动噪声研究被引量:1
2013年
振动环境中,GaN基p-i-n器件的噪声会急剧增加,这限制了器件的探测能力。利用力锤和振动台分别模拟冲击振动和随机振动环境,研究了器件噪声在不同振动条件下的变化规律。实验结果表明,在冲击振动中,器件噪声呈现出周期特性,但噪声幅度随着时间减小。器件噪声主要的频率成分为429Hz,此频率下的器件噪声与激励力的大小、振动加速度的幅度成线性关系。随机振动的实验结果也表明,振动环境中测量到的噪声随着随机振动功率谱密度的增大而线性增加。
刘飞刘福浩袁永刚李向阳
关键词:氮化镓振动噪声紫外探测
HgCdTe轴温探测器噪声的温度特性研究被引量:2
2013年
针对HgCdTe列车轴温探测器,通过测量不同温度下其噪声功率谱的变化,研究了温度对器件噪声的影响。实验结果表明:在-30-20℃范围内,当温度降低时,探测器噪声显著增加,最大增幅分别达到2.7倍(偏流为1mA时)和3.6倍(偏流为2mA时)。经过理论分析发现,探测器热噪声对总噪声的贡献很小,温度变化的主要影响是器件的产生一复合噪声和1/f噪声。
叶柏松刘飞袁永刚李向阳
关键词:HGCDTE光导探测器温度噪声
AlGaN基p-i-n光电探测器负响应现象研究
2014年
对AlGaN基p-i-n光电探测器的负光电响应特性进行研究,从实验上证实了器件中p型接触电极的肖特基特性是导致该现象的主导因素.不同偏压下的响应光谱表明,这些AlGaN光伏器件中存在较为明显的光导响应特性.光照和暗背景条件下的C-f曲线验证了器件中的持续光电导特性,而高铝组分铝镓氮材料内存在的大量缺陷被认为是该现象的起因.系统地研究了AlGaN基p-i-n光电探测器存在的负响应现象及其微观机理,为铝镓氮基日盲器件光电性能的优化提供了重要参考依据.
刘福浩许金通刘飞王立伟张燕李向阳
关键词:光电探测器持续光电导
碲镉汞光导器件振动噪声
2014年
利用振动台和频谱分析仪对碲镉汞中波光导器件的噪声进行了研究.随机振动的实验结果表明,振动环境中测量到的噪声随着随机振动功率谱密度的增大而线性增加,其比例系数是分段的,当振动功率谱密度小于0.01 g2/Hz,为32μVHz0.5/g2,大于0.01 g2/Hz,为80μVHz0.5/g2.对实验结果进行了初步分析,认为振动能量以一定的内耗系数转化为热能,以声子的形式在碲镉汞材料内传递,改变了晶格振动的能级,影响了材料的散射特性,从而影响器件的输运特性、电阻率等电学特性,产生了附加的振动噪声.
刘飞袁永刚罗毅王继强李向阳
关键词:碲镉汞振动噪声声子
光电器件薄膜附着力评价方法的研究进展被引量:1
2011年
薄膜与衬底的结合性能一直备受关注。在各种情况下,薄膜的性能都依赖于其与衬底的附着力大小。为了提高附着强度,需要深刻理解附着力的机理和开发合适的附着力测试技术。从基准附着力、热力学附着能和实际附着力三个不同角度提供了附着力评价途径。作为广泛使用的附着力粘接测试技术,拉脱法和压带剥落法等方法在大量样品测试方面具有独特优势,可定性、半定量地评价薄膜附着性能。
钱大憨贾嘉陈柳炼刘福浩刘飞张立瑶叶柏松李向阳
关键词:附着力光电器件测试技术
共1页<1>
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