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领域

  • 2篇一般工业技术

主题

  • 2篇电流放大
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  • 2篇锁相放大
  • 2篇锁相放大器
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  • 2篇TI
  • 2篇ZR
  • 1篇电畴
  • 1篇铁电
  • 1篇铁电薄膜
  • 1篇铁电畴
  • 1篇O3
  • 1篇畴反转
  • 1篇PB

机构

  • 4篇中国科学院宁...

作者

  • 4篇卢焕明
  • 4篇魏安祥
  • 4篇魏艳萍
  • 4篇李勇
  • 2篇陈国新
  • 1篇陈斌

传媒

  • 1篇理化检验(物...

年份

  • 1篇2019
  • 1篇2017
  • 2篇2015
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
利用导电原子力显微镜检测光电转换材料光电流信号的方法
本发明提供了一种利用导电原子力显微镜检测光电转换材料光电流信号的方法。采用锁相放大器,锁相放大器提供交变的驱动电压用以驱动光源发光照射材料样品,由于光电转换效应样品产生光电流,导电探针接触样品探测该光电流信号并将其传输至...
魏艳萍卢焕明魏安祥陈国新李勇
文献传递
Pb(Zr,Ti)O3薄膜畴反转行为的扫描探针显微镜研究
利用改良的扫描探针显微镜对外延生长的PbZrTiO/SrRuO/SrTiO异质结薄膜纳米尺度的极化与电畴反转行为进行了研究。结果显示利用导电原子力显微镜可以直接观测到极化反转电流。基于这利现象,利用导电原予力显微镜研究了...
魏艳萍陈斌卢焕明魏安祥李勇
关键词:畴反转扫描探针显微镜
文献传递
基于扫描探针显微术研究Pb(Zr,Ti)O_3铁电薄膜的电学性质被引量:2
2015年
首先利用脉冲激光沉积技术在(001)取向的SrTiO3基片上外延生长了SrRuO3底电极和PbZr0.20Ti0.80O3(PZT)薄膜,然后利用扫描探针显微镜的压电响应模式(PFM)和导电测试模式(C-AFM)表征了PbZr0.20Ti0.80O3/SrRuO3/SrTiO3异质结薄膜纳米尺度的电学性质。以镀铂探针为上电极,利用压电响应模式获得了复合薄膜纳米尺度的压电位移-电压蝶形曲线和压电相位-电压滞后曲线,表明样品具有良好的铁电性。薄膜纳米尺度下的I-V测试结果表明经+10V电压极化后的样品,其I-V曲线在矫顽场附近出现峰值,与宏观I-V测试结果类似。导电原子力和压电力测试结果证明C-AFM可以检测到PZT薄膜样品的瞬时极化反转电流并进行成像。
魏艳萍卢焕明魏安祥李勇
关键词:扫描探针显微镜铁电畴
用导电原子力显微镜检测光电转换材料光电流信号的方法
本发明提供了一种利用导电原子力显微镜检测光电转换材料光电流信号的方法。采用锁相放大器,锁相放大器提供交变的驱动电压用以驱动光源发光照射材料样品,由于光电转换效应样品产生光电流,导电探针接触样品探测该光电流信号并将其传输至...
魏艳萍卢焕明魏安祥陈国新李勇
文献传递
共1页<1>
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