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文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

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机构

  • 1篇杭州电子科技...

作者

  • 1篇林弥
  • 1篇张海鹏
  • 1篇吕伟锋
  • 1篇王彬
  • 1篇余厉阳
  • 1篇宁祥
  • 1篇孟晓
  • 1篇王利丹
  • 1篇余育新

传媒

  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2015
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
势阱势垒宽度对GaAs/AlGaAs对称DBS RTD NDR特性的影响
2015年
目前共振隧穿二极管(RTD)多值逻辑电路研究采用多个MOSFETs组合,以逼近RTD特性,这是现有逻辑功能验证的不足。针对该问题,通过建立对称双势垒RTD电子输运的解析模型,进而采用SILVACO TCAD对Ga As/Al Ga As基对称DBS RTD器件的电学特性进行仿真实验研究。根据仿真实验的结果分析总结了势阱和势垒宽度对Ga As/Al Ga As基对称DBS RTD负阻特性影响的规律,并根据MVL电路设计应用的低压、低功耗、适当峰谷电流比和工艺可实现性等要求,通过大量的仿真优化实验提出采用Ga As/Al Ga As基对称DBS RTD实现多值逻辑电路设计所需的对称DBS RTD器件设计参数窗口。
孟晓张海鹏林弥余育新宁祥吕伟锋李阜骄王利丹余厉阳王彬
关键词:共振隧穿二极管GAAS/ALGAAS负阻特性
共1页<1>
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