2025年2月28日
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李君翊
作品数:
8
被引量:1
H指数:1
供职机构:
上海交通大学
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发文基金:
国家自然科学基金
国家科技重大专项
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相关领域:
化学工程
电子电信
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合作作者
王慧颖
微米纳米加工技术国家重点实验室...
汪红
微米纳米加工技术国家重点实验室...
丁桂甫
微米纳米加工技术国家重点实验室...
顾挺
上海交通大学
程萍
上海交通大学
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作者
8篇
李君翊
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丁桂甫
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汪红
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王慧颖
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顾挺
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复旦学报(自...
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2013
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用于TSV铜互连材料力学性能测试的原位压缩试样
本发明公开了一种用于TSV铜互连材料力学性能测试的原位压缩试样,所述试样包括试样部分和用于固定试样的固定端,所述的试样部分是在硅通孔中形成的圆形金属柱;所述的固定端部分为圆形或方形平板结构,所述试样部分在所述固定端的上端...
汪红
顾挺
程萍
李君翊
王慧颖
丁桂甫
文献传递
基于单轴微拉伸的Cu-TSV薄膜力学性能研究
随着微电子行业电子产品的微型化趋势,传统的封装技术已经不能满足高封装密度与低功耗的需求,从而芯片的三维集成概念应运而生,并使之通过硅通孔(TSV,through silicon via)技术得以实现。铜由于其高电导率、相...
李君翊
关键词:
微拉伸
力学性能
文献传递
基于单轴微拉伸的TSV铜力学性能研究
被引量:1
2012年
电子产品的微型化趋势使芯片的三维集成概念应运而生,并通过硅通孔(TSV-through silicon via)技术得以实现.为了测试TSV中互连铜(Cu-TSV)的力学性能,提出了1个简便、易于操作的单轴微拉伸方法.利用有限元分析优化设计Cu-TSV微拉伸试样的支撑框架结构,有效减小试样在制作及操作过程中的损伤;种子层采用溅射Ti膜取代传统的溅射Cr/Cu膜,减小了电镀过程中的应力,避免了对种子层碱性刻蚀时对试样的腐蚀;采用单轴微拉伸系统对优化设计与制备的Cu-TSV微拉伸试样进行测试.经测试得到的Cu-TSV的杨氏模量与抗拉强度为25.4~32.9GPa和574~764MPa.
李君翊
汪红
王溯
王慧颖
程萍
张振杰
丁桂甫
关键词:
微拉伸
带有网状支撑框架的低应力微拉伸试样
本实用新型公开一种带有网状支撑框架的低应力微拉伸试样,包括支撑框架层以及位于所述支撑框架层上的微拉伸试样层,其中:所述微拉伸试样层包括设有应力释放孔的椭圆型支撑平台,所述支撑框架层包括网状支撑框架、与网状支撑框架连接的“...
汪红
李君翊
王慧颖
王艳
丁桂甫
文献传递
用于TSV铜互连材料力学性能测试的原位压缩试样
本发明公开了一种用于TSV铜互连材料力学性能测试的原位压缩试样,所述试样包括试样部分和用于固定试样的固定端,所述的试样部分是在硅通孔中形成的圆形金属柱;所述的固定端部分为圆形或方形平板结构,所述试样部分在所述固定端的上端...
汪红
顾挺
程萍
李君翊
王慧颖
丁桂甫
文献传递
带网状支撑框架的低应力微拉伸试样的制备方法
本发明公开一种薄膜测试技术领域的带网状支撑框架的低应力微拉伸试样的制备方法,步骤:在玻璃基片上旋甩光刻胶作为牺牲层并前烘,在牺牲层上溅射金属Ti层并做表面活化处理用作种子层,在种子层上进行甩胶、曝光、显影,根据掩模版设计...
汪红
李君翊
王慧颖
王艳
丁桂甫
文献传递
用于TSV铜互连材料力学性能测试的原位拉伸试样
本发明公开了一种用于TSV铜互连材料力学性能测试的原位拉伸试样,所述试样包括试样部分和用于夹持试样的夹持部分,所述的试样部分是在硅通孔中形成的圆形金属柱;所述的夹持部分包括上夹持端和下夹持端,上、下夹持端均为方形平板结构...
汪红
王慧颖
丁桂甫
顾挺
李君翊
程萍
文献传递
用于TSV铜互连材料力学性能测试的原位拉伸试样
本发明公开了一种用于TSV铜互连材料力学性能测试的原位拉伸试样,所述试样包括试样部分和用于夹持试样的夹持部分,所述的试样部分是在硅通孔中形成的圆形金属柱;所述的夹持部分包括上夹持端和下夹持端,上、下夹持端均为方形平板结构...
汪红
王慧颖
丁桂甫
顾挺
李君翊
程萍
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