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熊建

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：浙江大学更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇电路
  • 2篇电路版图
  • 2篇随机存储器
  • 2篇索引
  • 2篇索引表
  • 2篇静态随机存储...
  • 2篇集成电路
  • 2篇集成电路版图
  • 2篇集成电路生产
  • 2篇关键面积
  • 2篇分块
  • 2篇版图
  • 2篇SRAM
  • 2篇成品率
  • 2篇存储器
  • 1篇设计方法

机构

  • 4篇浙江大学

作者

  • 4篇熊建
  • 3篇史峥
  • 2篇郑勇军
  • 2篇马铁中
  • 2篇任杰
  • 2篇严晓浪
  • 1篇潘伟伟

传媒

  • 1篇机电工程

年份

  • 3篇2011
  • 1篇2010
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
一种快速提取版图关键面积的方法
本发明公开了一种快速提取版图关键面积的方法，包括提取版图信息、建立分块有序多级索引表、随机模拟生产工艺缺陷分析统计影响、利用分块有序多级索引表计算关键面积。本发明运用对集成电路版图的基本图形单元进行先分类后分层遍历版图树...
熊建任杰严晓浪史峥马铁中郑勇军
文献传递
一种SRAM成品率专用测试结构的设计方法
2011年
SRAM的成品率是半导体制造量产能否成功的关键。针对通用的工艺测试结构无法满足SRAM特殊要求的问题,阐述了一种SRAM成品率专用测试结构的设计方法。在SRAM原始版图的基础上改变设计以构造测试图形,并按阵列形式排布,有针对性地评估工艺环境造成的缺陷。研究结果表明该方法还原了产品电路的设计环境,能有效捕获违背SRAM特殊设计规则所造成的开路或短路缺陷,从而有助于快速修正设计误差,提升成品率。
熊建潘伟伟史峥
关键词：静态随机存储器成品率
一种快速提取版图关键面积的方法
本发明公开了一种快速提取版图关键面积的方法，包括提取版图信息、建立分块有序多级索引表、随机模拟生产工艺缺陷分析统计影响、利用分块有序多级索引表计算关键面积。本发明运用对集成电路版图的基本图形单元进行先分类后分层遍历版图树...
熊建任杰严晓浪史峥马铁中郑勇军
专用于提升SRAM成品率的测试芯片的设计
在系统芯片/(SOC/)设计中,伴随着数据处理需求的不断提升,高性能静态随机存储器/(SRAM/)所占的芯片设计面积比例逐渐增大。因此,如何提高SRAM的成品率成为先进半导体工艺制造量产成功的关键。本文阐述了一种专用于S...
熊建
关键词：静态随机存储器成品率
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