您的位置: 专家智库 > >

文献类型

  • 1篇中文专利

主题

  • 1篇氧化钙
  • 1篇氧化硅
  • 1篇荧光
  • 1篇校准曲线
  • 1篇硫含量
  • 1篇二氧化硅
  • 1篇分析仪器
  • 1篇X射线
  • 1篇X射线荧光

机构

  • 1篇武汉钢铁股份...

作者

  • 1篇贾丽晖
  • 1篇胡涛
  • 1篇崔隽
  • 1篇古兵平
  • 1篇沈克
  • 1篇刘凯
  • 1篇曾莹
  • 1篇杨红
  • 1篇关晖

年份

  • 1篇2016
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
X射线荧光光谱法测定颗粒灰或活性灰中氧化钙、二氧化硅及硫含量的分析方法
本发明公开了一种X射线荧光光谱法测定颗粒灰或活性灰中氧化钙、二氧化硅及硫含量的分析方法,属于分析测试方法领域。该分析方法包括如下步骤:1)选择分析仪器及元素的测量条件;2)选择标准样品;3)制备标准样品的玻璃熔片;4)绘...
胡涛崔隽贾丽晖沈克古兵平刘凯曾莹关晖杨红杨红
文献传递
共1页<1>
聚类工具0