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张伟

作品数：5 被引量：0H指数：0
供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
相关领域：医药卫生自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇医药卫生

主题

  • 3篇地址发生器
  • 3篇冗余
  • 3篇冗余结构
  • 3篇数据发生器
  • 3篇嵌入式
  • 3篇嵌入式存储
  • 3篇嵌入式存储器
  • 3篇发生器
  • 3篇存储器
  • 2篇塑封
  • 2篇基板
  • 2篇存储阵列
  • 1篇引线
  • 1篇引线框
  • 1篇引线框架
  • 1篇正品
  • 1篇冗余存储
  • 1篇扫描电子显微...
  • 1篇凸点

机构

  • 5篇中国电子科技...
  • 1篇浙江驰拓科技...

作者

  • 5篇张伟
  • 3篇胡恩
  • 3篇徐彦峰
  • 3篇杨超
  • 2篇汤赛楠
  • 2篇张艳飞
  • 2篇虞勇坚
  • 1篇胡凯
  • 1篇宋国栋
  • 1篇郁骏

传媒

  • 1篇环境技术

年份

  • 1篇2024
  • 1篇2023
  • 1篇2018
  • 2篇2016
共 5 条 记 录，以下是 1-5
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排序方式：
塑封基板类器件翻新件无损鉴别方法研究
2024年
本研究提出了一种针对塑封基板类翻新件的无损鉴别方法。通过外观特征分析、声学扫描电子显微镜分析和X射线分析等技术方法,实现了塑封基板类翻新件的无损鉴别方法。结合相关案例,揭示了塑封基板类器件的典型翻新物理特征,有效指导了塑封基板类翻新器件的鉴别方向。针对典型翻新物理特征进行综合评价和风险分级,进一步加强了塑封基板类器件在应用过程中的风险规避。
江徽郭劼虞勇坚张伟王倩倩
一种嵌入式存储器的多级冗余结构
本发明涉及一种嵌入式存储器的多级冗余结构，包括：正常数据存储阵列，用于正常情况的数据存储；第一、二冗余存储阵列，用于替换正常数据存储阵列中的故障列；MBIST控制器，用于控制存储器的自检测行为；MBIST地址发生器，用于...
杨超徐彦峰张伟胡恩胡凯
文献传递
一种嵌入式存储器的冗余结构
本发明涉及一种嵌入式存储器的冗余结构，包括：正常数据存储阵列，用于正常情况下的数据存储；冗余存储阵列，用于替换正常数据存储阵列中的故障列；MBIST控制器，用于控制存储器的自检测行为；MBIST地址发生器，用于产生自检测...
徐彦峰杨超张伟胡恩张艳飞汤赛楠
文献传递
一种嵌入式存储器的冗余结构
本发明涉及一种嵌入式存储器的冗余结构，包括：正常数据存储阵列，用于正常情况下的数据存储；冗余存储阵列，用于替换正常数据存储阵列中的故障列；MBIST控制器，用于控制存储器的自检测行为；MBIST地址发生器，用于产生自检测...
徐彦峰杨超张伟胡恩张艳飞汤赛楠
一种塑封基板类器件翻新件无损鉴别方法
本发明公开一种塑封基板类器件翻新件无损鉴别方法，属于翻新鉴别领域。首先借助设备与工具，检查器件表面是否存在翻新的物理特征，或与正品技术文件规定的外部特征存在差异性；接着采用声学扫描电子显微镜对样品内部区域进行无损扫描检查...
江徽虞勇坚郁骏张伟唐韬王鹏飞王倩倩宋国栋
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