您的位置： 专家智库 > >

廖威

作品数：32 被引量：0H指数：0
供职机构：哈尔滨工业大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术文化科学机械工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 32篇中文专利

领域

  • 13篇自动化与计算...
  • 1篇机械工程
  • 1篇文化科学

主题

  • 20篇工程光学
  • 14篇光学元件
  • 12篇元件
  • 12篇图像
  • 12篇光学
  • 9篇大口径
  • 6篇缺陷修复
  • 6篇物距
  • 6篇机床
  • 6篇机床坐标系
  • 5篇激光
  • 5篇大口径光学元...
  • 4篇熔石英
  • 4篇迁移
  • 4篇准确率
  • 4篇自动化
  • 4篇自动聚焦
  • 4篇工艺方法
  • 4篇非球面
  • 4篇目标点

机构

  • 32篇哈尔滨工业大...

作者

  • 32篇陈明君
  • 32篇廖威
  • 32篇赵林杰
  • 31篇王海军
  • 30篇袁晓东
  • 28篇郑万国
  • 28篇程健
  • 4篇廖然
  • 2篇吴春亚
  • 2篇杨浩
  • 1篇李省伟

年份

  • 6篇2024
  • 5篇2023
  • 13篇2022
  • 2篇2020
  • 1篇2019
  • 1篇2018
  • 2篇2016
  • 2篇2015
共 32 条 记 录，以下是 1-10
全选 清除 导出
排序方式：
大口径熔石英光学元件表面微缺陷的自动化激光修复方法
大口径熔石英光学元件表面微缺陷的自动化激光修复方法，涉及工程光学技术领域，用以解决现有修复方法存在自动化程度低且效率低下的问题。本发明的技术要点包括：根据元件表面缺陷区域的位置信息和尺寸信息确定修复策略；依据修复策略，利...
陈明君尹朝阳赵林杰程健袁晓东郑万国廖威王海军张传超
一种基于卷积神经网络的光学元件快速暗场检测方法
一种基于卷积神经网络的光学元件快速暗场检测方法，涉及光学元件检测技术领域，用以解决现有技术中对于大口径元件表面缺陷识别的准确率和效率较低的问题。本发明的技术要点包括：在暗场环境下对元件表面进行扫描采集，并调整曝光值，获得...
陈明君李小涛尹朝阳赵林杰程健袁晓东郑万国廖威王海军张传超
大口径曲面光学元件表面微缺陷修复用快速装夹随行夹具装置
大口径曲面光学元件表面微缺陷修复用快速装夹随行夹具装置，涉及一种随行夹具。解决了现有光学元件随行夹具装置存在夹持不稳定、易划伤光学元件且夹持过程耗时的问题。本发明的夹具框体为矩形框架，夹具框体的底边框的下表面设有两个定位...
陈明君赵林杰郑万国袁晓东廖然王海军廖威
文献传递
一种非球面熔石英元件表面微缺陷快速定位方法
一种非球面熔石英元件表面微缺陷快速定位方法，它属于工程光学技术领域。本发明解决了现有光学元件表面微缺陷检测效率以及定位准确率低的问题。本发明建立机床坐标系，根据待测熔石英元件的非球面的四条边界线在机床坐标系下的位置，来获...
陈明君尹朝阳赵林杰程健张德志蒋晓东廖威王海军张传超栾晓雨
文献传递
一种基于三光源显微系统的表面微缺陷定位与识别方法
一种基于三光源显微系统的表面微缺陷定位与识别方法，涉及工程光学技术领域，用以解决现有技术对于大口径光学元件表面微缺陷不能准确识别和定位不精确的问题。本发明的技术要点包括：获取元件表面多个缺陷区域的初始位置；对于每个缺陷区...
程健尹朝阳陈明君赵林杰袁晓东郑万国廖威王海军张传超
文献传递
一种大口径元件表面微缺陷高精度自动定位方法
一种大口径元件表面微缺陷高精度自动定位方法，涉及工程光学技术领域，用以解决现有技术对于大口径元件上尺寸较小的缺陷区域难以准确定位的问题。本发明的技术要点包括：获取元件表面缺陷区域的原始位置，包括在机床坐标系下X、Y、Z轴...
陈明君尹朝阳赵林杰李小涛程健袁晓东郑万国廖威王海军张传超
大口径曲面光学元件微缺陷修复用可微调显微检测装置
大口径曲面光学元件微缺陷修复用可微调显微检测装置,涉及一种曲面微缺陷检测装置。解决了大口径光学元件表面微缺陷的快速识别的定位精确度差的问题。本发明的暗场检测单元对熔石英光学元件曲面上的所有缺陷进行全口径扫描，并对扫描的微...
陈明君赵林杰王海军郑万国廖威袁晓东廖然
一种大口径元件的位姿自动确定方法
一种大口径元件的位姿自动确定方法，涉及工程光学技术领域，用以解决由于机床上元件夹具的定位精度有限导致元件位姿不确定的问题。本发明的技术要点包括：对机床上当前位姿的元件采集多个图像，并对多个图像进行处理，获得元件上任意点相...
赵林杰陈明君尹朝阳程健袁晓东郑万国廖威王海军张传超
一种大口径元件表面微缺陷检测与修复的自动化工艺方法
一种大口径元件表面微缺陷检测与修复的自动化工艺方法，涉及工程光学技术领域，用以解决现有技术对于大口径元件表面微缺陷的检测精度低和修复效率低的问题。本发明的技术要点包括：利用暗场相机采集元件表面图像并处理，实现对元件表面多...
陈明君赵林杰尹朝阳程健袁晓东郑万国廖威王海军张传超
基于深度学习和图像处理的光学元件表面损伤识别方法
基于深度学习和图像处理的光学元件表面损伤识别方法，涉及元件表面损伤识别技术领域，用以解决现有技术中对于大口径元件表面损伤识别准确率较低的问题。本发明的技术要点包括：提出了光学元件表面缺陷和污染物数据的自动采集和标注方法，...
陈明君尹朝阳赵林杰程健袁晓东郑万国廖威王海军张传超
文献传递
全选 清除 导出
共4页<1234>
聚类工具0