何子华
- 作品数：7 被引量：2H指数：1
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- 显微CT与三维重建技术对双层二硅酸锂玻璃陶瓷内部缺陷探测的可靠性分析
- 目的:通过比较二硅酸锂双层瓷试件剖面影像学形貌与相应显微CT扫描成像和三维重建结果 ,分析显微CT与三维重建技术用于无损探测二硅酸锂双层瓷材料内部缺陷的可靠性。方法:制作双层二硅酸锂双层瓷矩形试件,进行显微CT扫描;扫描...
- 赵克何子华
- 关键词：牙瓷料可靠性分析
- 文献传递
- 饰瓷气孔缺陷对双层二硅酸锂玻璃陶瓷冠断裂及崩瓷失效影响的实验研究
- 刀力何子华简裕涛赵克
- 气孔缺陷对磨牙双层全瓷冠力学性能影响的有限元研究
- 2016年
- 目的研究饰瓷气孔缺陷对磨牙二硅酸锂(LDG)及氧化锆(Y-TZP)双层全瓷冠力学性能的影响。方法制作上颌第一磨牙LDG双层全瓷冠,使用显微CT扫描并三维重建分析饰瓷内气孔缺陷的尺寸及分布。分别构建上颌第一磨牙LDG及Y-TZP双层全瓷冠三维有限元模型,根据CT数据于饰瓷内添加气孔缺陷并进行加载;A组为对颌牙以200 N加载于牙冠模拟牙尖交错位时的垂直向受力;B组为以200 N与牙长轴呈45°加载于牙冠近、远中舌尖颊斜面,模拟侧方受力;C组为压头垂直位移1 mm加载于牙冠中央窝,模拟体外实验中的加载;计算最大主应力并分析气孔缺陷对其数值的影响。结果 LDG与Y-TZP在各载荷条件下的应力分布近似;垂直向加载时牙尖接触区应力集中,最大应力分别为51.683、50.084 MPa,存在气孔时,应力集中于牙尖接触应力区的气孔缺陷,最大应力上升至290.72、285.92 MPa;45°斜向加载时拉应力集中于核瓷颈部,气孔缺陷无应力集中,最大应力不变;体外加载时中央窝、沟及加载点应力集中,最大应力为107.3、125.41 MPa,存在气孔时,应力集中于拉应力区的气孔缺陷,最大应力上升至359.93、322.39 MPa。结论饰瓷气孔缺陷对双层全瓷冠应力分布的影响与受载方式有关,位于拉应力集中区的气孔缺陷是导致冠失效的因素。
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- 关键词：牙瓷料牙应力分析气孔缺陷
- 双层二硅酸锂全瓷冠缺陷分布及对断裂失效影响的实验研究
- 目的:显微CT检测双层二硅酸锂玻璃陶瓷(bi-LDG)冠内部气孔缺陷的尺寸、圆整度及分布特征,并通过体外实验与模拟分析研究气孔缺陷对bi-LDG双层冠断裂失效的影响。方法:制作bi-LDG矩形试件,进行显微CT扫描,对扫...
- 刀力何子华简裕涛赵克
- 关键词：牙瓷料气孔缺陷有限元分析
- 文献传递
- 显微CT与三维重建技术对双层二硅酸锂玻璃陶瓷内部缺陷探测的可靠性分析被引量：2
- 2016年
- 目的通过比较二硅酸锂双层瓷试件剖面影像学形貌与相应显微CT扫描成像和三维重建结果,分析显微CT与三维重建技术用于无损探测二硅酸锂双层瓷材料内部缺陷的可靠性。方法制作双层二硅酸锂双层瓷矩形试件,进行显微CT扫描;扫描后沿垂直于试件长轴将试件平均切成6段,对每段剖面进行光学显微镜观察并获取5个剖面图像。根据剖面位置确定显微CT扫描断层图像,并将显微镜图像与显微CT图像进行灰度差值匹配比对,分析显微CT对全瓷材料内部缺陷探测的可靠性与精确性。对CT扫描结果进行三维重建,比较二硅酸锂双层瓷试件内部缺陷的二维形貌与三维形貌的差异。结果显微镜图像与显微CT图像的平均相似度为(83±7.9)%;缺陷的二维剖面形貌与三维形貌存在较大差异。结论显微CT能够可靠地无损探测二硅酸锂双层瓷材料的内部缺陷结构,但对尺寸接近探测分辨率的孔洞成像较模糊。三维重建分析较二维形貌观察能更全面地反映缺陷的形貌。
- 何子华刀力简裕涛张新平赵克
- 关键词：牙瓷料可靠性分析三维重建
- 饰瓷气孔缺陷对二硅酸锂双层全瓷冠断裂及崩瓷失效影响的实验研究
- 目的:研究二硅酸锂双层全瓷冠饰瓷内部气孔缺陷对其断裂失效的影响。方法:制作二硅酸锂双层全瓷冠16个,利用micro-CT扫描及VGStudio Max 2.2分析饰瓷内气孔尺寸、圆整度及分布情况;将试件进行抗折破坏实验,...
- 刀力何子华简裕涛赵克
- 关键词：牙瓷料气孔缺陷
- 文献传递
- 饰瓷气孔缺陷对双层二硅酸锂玻璃陶瓷冠断裂及崩瓷失效影响的实验研究
- <正>目的:探明饰瓷气孔缺陷对双层二硅酸锂玻璃陶瓷(bi-LDG)冠应力分布、断裂载荷及失效模式的影响。方法:制作上颌第一磨牙bi-LDG冠30个,用micro-CT扫描及VGStudio Max 2.2分析饰瓷内气孔尺...
- 刀力何子华简裕涛赵克
- 文献传递
