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钟富强
作品数:
7
被引量:1
H指数:1
供职机构:
华中科技大学
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发文基金:
国家自然科学基金
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相关领域:
自动化与计算机技术
电子电信
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合作作者
李达
华中科技大学
贺松平
华中科技大学
吴文超
华中科技大学
魏康
华中科技大学
徐鑫
华中科技大学
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自动化与计算...
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电子电信
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机构
7篇
华中科技大学
作者
7篇
钟富强
6篇
贺松平
6篇
李达
5篇
吴文超
4篇
李斌
4篇
徐鑫
4篇
魏康
2篇
杨璐
2篇
陈腾飞
1篇
刘晓龙
1篇
朱文凯
年份
2篇
2018
2篇
2017
1篇
2016
2篇
2015
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7
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一种芯片连晶缺陷识别方法
本发明公开了一种芯片连晶缺陷识别方法,该发明主要用于在芯片制造过程中识别含连晶缺陷的不合格芯片;包括三个步骤:步骤一,对采集到的芯片图片进行模板匹配,定位出芯片的位置,根据芯片的位置,对图片进行截取;步骤二,对截取获得的...
贺松平
钟富强
李斌
徐鑫
李达
吴文超
邱园红
魏康
一种基于模板匹配的芯片定位方法
本发明公开了一种基于模板匹配的芯片定位方法,具体包括以下步骤:步骤一,制作模板;步骤二,对待定位图片进行预处理,增大背景与芯片基体的对比度;步骤三,对预处理后的图片进行图像分割,得到blob块,利用blob块的面积和bl...
贺松平
钟富强
李斌
吴文超
李达
徐鑫
邱园红
魏康
文献传递
一种倒装LED芯片在线检测收光测试组件
本发明公开了一种倒装LED芯片在线检测的收光测试组件,该收光测试组件包括积分球组件和光学测试组件,其中积分球组件包括积分球模块、积分球夹具、积分球升降装置;其中积分球模块包括积分球、积分球90°转接头,积分球的开口设置有...
陈腾飞
刘晓龙
朱文凯
杨璐
邓宇书
李达
贺松平
钟富强
文献传递
一种芯片连晶缺陷识别方法
本发明公开了一种芯片连晶缺陷识别方法,该发明主要用于在芯片制造过程中识别含连晶缺陷的不合格芯片;包括三个步骤:步骤一,对采集到的芯片图片进行模板匹配,定位出芯片的位置,根据芯片的位置,对图片进行截取;步骤二,对截取获得的...
贺松平
钟富强
李斌
徐鑫
李达
吴文超
邱园红
魏康
文献传递
LED检测分选一体机芯片视觉定位关键技术研发
机器视觉系统是LED检测分选一体机的核心组成部分,对一体机的效率和精度至关重要。LED一体机芯片视觉定位的技术主要有芯片的匹配定位,芯片的去重及索引分配和芯片的双胞等关键技术,针对之前的研究工作的不足之处,本文的研究内容...
钟富强
关键词:
机器视觉
LED芯片
一种基于模板匹配的芯片定位方法
本发明公开了一种基于模板匹配的芯片定位方法,具体包括以下步骤:步骤一,制作模板;步骤二,对待定位图片进行预处理,增大背景与芯片基体的对比度;步骤三,对预处理后的图片进行图像分割,得到blob块,利用blob块的面积和bl...
贺松平
钟富强
李斌
吴文超
李达
徐鑫
邱园红
魏康
文献传递
一种倒装LED芯片在线检测方法
本发明公开了一种倒装LED芯片在线检测方法,该方法包括:在工作中,运输传送系统可以运输盘片工作台到合适的工作区域,调整位姿之后,启动探测对准系统对探针工作台进行控制,使探针与待测试的芯片接触通电,使芯片发亮,从而收光测试...
贺松平
陈腾飞
吴文超
钟富强
李达
邓宇书
杨璐
邱园红
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