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文献类型

  • 1篇中文专利

主题

  • 1篇碎屑
  • 1篇检测台
  • 1篇非接触
  • 1篇非接触式
  • 1篇报警
  • 1篇玻璃基
  • 1篇玻璃基板
  • 1篇不良率

机构

  • 1篇北京京东方光...

作者

  • 1篇王大山
  • 1篇张彭
  • 1篇张海博
  • 1篇王鹏伟
  • 1篇顾晓光

年份

  • 1篇2012
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
玻璃基板残材检测装置
本实用新型公开一种玻璃基板残材检测装置,有效降低不良率以及节省报警的解决时间,包括检测台及与检测台配套设有的对位柱,所述对位柱包括X方向上两组对位柱和Y方向上至少一组对位柱;所述检测台上设有检测装置,且所述检测装置置于X...
王鹏伟张海博王大山张彭顾晓光
文献传递
共1页<1>
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