郝金刚
- 作品数：26 被引量：2H指数：1
- 供职机构：北京京东方光电科技有限公司更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术机械工程经济管理更多>>
- 一种阵列基板及其制作方法、显示装置
- 本发明实施例提供一种阵列基板及其制作方法、显示装置，涉及液晶面板的制造技术领域，在制作过程中避免了由于两条信号线之间的相邻电压差而导致静电的产生和累积，防止阵列基板上累积过量静电而发生静电击穿。在衬底基板上，通过构图工艺...
- 郝金刚
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- 阵列基板、显示面板和显示装置
- 本发明提供一种阵列基板，所述阵列基板包括衬底基板、栅图形层、有源图形层和源漏图形层，所述栅图形层包括多条栅线，所述源漏图形层包括多条数据线，多条所述栅线和多条所述数据线交叉设置，以将所述阵列基板划分为多个像素单元，所述阵...
- 田露郝金刚黄东升张惠博张鹏曲严帅孟国萃
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- 一种用于制作液晶显示器的单元母板
- 本实用新型实施例涉及液晶显示领域，特别涉及一种用于制作液晶显示器的单元母板，用于解决现有技术中在切割液晶显示面板的单元母板时，容易造成液晶显示面板的损坏的问题。本实用新型实施例的用于制作液晶显示器的单元母板，包括第一母基...
- 郝金刚
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- 阵列基板、制造方法以及相应的显示面板和电子装置
- 本发明的实施例提供一种阵列基板、该阵列基板制造方法以及具有该阵列基板的显示面板和电子装置。该阵列基板包括衬底基板和在所述衬底基板上设置的栅线、绝缘层、数据线以及第一有源垫层，所述绝缘层设置在所述栅线上，所述数据线隔着所述...
- 郝金刚吴东琨
- TDDI产品Mo-Al-Mo膜层腐蚀原因分析及改善被引量：2
- 2017年
- 为降低TDDI产品Lead Open型线不良发生率,本文对Lead Open的发生机理进行了研究及改善验证。对TDDI产品生产数据进行了对比,对Mo-Al-Mo结构的SD膜层进行研究,根据以上结果确定改善方案并投入验证。首先,明确了Lead Open发生率与Delay Time的关系。接着,对SD膜层的微观结构进行了表征。然后,根据膜层结构和不同金属的电化学特征,建立了SD膜层电偶腐蚀模型。分析表明:Mo、Al两种金属间存在1.47V的电极电位差,具有很强的电偶腐蚀倾向性,且表层Mo中存在10nm级别的贯穿性孔洞,直径为0.4nm的水分子可轻易渗入,进而引发电偶腐蚀。表层Mo厚度增加25%后,其腐蚀速度较量产条件降低30%,Lead Open发生率降低1.4个百分点,维持在0.1%的较低水平,满足TDDI产品量产对该类不良发生率的要求。
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- 关键词：LEADOPEN电偶腐蚀电化学
- 一种阵列基板及其制作方法、显示装置
- 本发明实施例提供一种阵列基板及其制作方法、显示装置，涉及液晶面板的制造技术领域，在制作过程中避免了由于两条信号线之间的相邻电压差而导致静电的产生和累积，防止阵列基板上累积过量静电而发生静电击穿。在衬底基板上，通过构图工艺...
- 郝金刚
- 一种半导体薄膜的测量系统
- 本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及半导体薄膜的测量系统，用于较准确的测量出半导体薄膜的特性参数。使用本发明实施例提供的半导体薄膜的测量系统，通过在半导体薄膜的上方和下方分别构成电容板，由上下电容板之间的电容等可以确定出半...
- 郝金刚
- 显示不良的维修方法
- 本发明公开了一种显示不良的维修方法。该方法包括：检测出显示面板的显示不良；对所述显示不良的部分结构进行维修，以使显示不良的剩余结构的尺寸小于检验标准值。本发明提供的技术方案中，检测出显示面板的显示不良，对显示不良的部分结...
- 郝金刚尚建兴张惠博
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- 显示面板和显示装置
- 所公开的是一种显示面板，包括测试线和孪生虚设线，其中孪生虚设线与信号线的交叠区面积和孪生虚设线面积之比小于测试线与信号线的交叠区面积和测试线面积之比。还公开了包括所述显示面板的显示装置。
- 郝金刚
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- 一种显示基板、其制作方法及显示装置
- 本发明公开了一种显示基板、其制作方法及显示装置，在显示基板的制作方法中，在形成多个具有外围走线的显示基板的同时，形成用于将位于每个显示基板上相互绝缘的各外围走线电性连接的连接线的图形，这样，通过增加设置连接线将相互绝缘的...
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