王建超
- 作品数：34 被引量：17H指数：2
- 供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术电气工程自然科学总论更多>>
- 一种存储器的板级环境测试装置及方法
- 本发明涉及集成电路测试技术领域，特别涉及一种存储器的板级环境测试装置及方法。包括：驱动板，包括：串口模块、FPGA芯片、存储模块、电源模块、时钟模块、电平转化模块和金手指一；所述FPGA芯片分别与所述存储模块、所述串口模...
- 侯晓宇王建超常艳昭
- 一种基于FPGA的SIP互联输出驱动故障测试方法及其系统
- 本发明属于芯片故障测试技术领域，特别涉及一种基于FPGA的SIP互联输出驱动故障测试方法及其系统。包括：通过FPGA和DSP模块所对应的仿真软件，生成FPGA和DSP配置向量，通过自动生产测试系统将FPGA和DSP配置向...
- 黄健陈诚解维坤王建超
- 一种防止SIP芯片低温测试中测试板水汽凝结的系统和方法
- 本发明涉及芯片低温测试技术领域，特别涉及一种防止SIP芯片低温测试中测试板水汽凝结的系统和方法。包括板卡支架和测试板，还包括：背部密封板，所述背部密封板的内部开设有中空密封腔，所述背部密封板的顶部密封抵接于所述测试板的背...
- 马美铭王恒彬倪宋斌于益超王建超黄健
- 一种霍尔电流传感芯片测试方法及测试装置
- 本发明公开一种霍尔电流传感芯片测试方法及测试装置，属于集成电路测试领域。本发明通过程控脉冲电流和同步采集电压信号，实现全参数自动化测试，不需要使用外置电流源、电压表等仪器，降低了测试成本；另外采用输入脉冲电流的方式，在一...
- 张鹏辉郭晓宇王建超朋焱盛
- 基于ATE的千兆以太网收发器芯片测试方法
- 兆以太网收发器芯片是一种最高能支持1000 Mbit/s传输速率的高速接口芯片。介绍了该类芯片的功能、硬件配置，针对ATE测试机台设计了相应的外围电路，在ATE测试机台上进行了寄存器读写测试和回环测试，利用测试机抓取了千...
- 谢凌峰武新郑王建超
- 关键词：ATE
- 一种老炼信号的可调式发生装置及方法
- 本发明公开一种老炼信号的可调式发生装置及方法，包括电压转换模块、信号发生模块、信号放大模块；电压转换模块为可调式信号发生装置中的各模块提供电源，信号发生模块产生高稳定性和高精度的高质量正弦波、方波和三角波；输出波形由外部...
- 周蕾毛磊明陈真王建超冯慧玲徐伟伟周杰
- 基于T861测试系统的皮安级漏电流测试方法被引量：6
- 2018年
- 目前模拟开关的漏电流已达到皮安级,而传统的模拟集成电路测试系统的最小测量精度一般为纳安级,无法满足测试要求。研究了基于宏邦T861数模混合集成电路测试系统的皮安级漏电流测试方法。以ADG436型模拟开关电路为例,利用I-V转换方法设计了基于T861测试系统的漏电流测试方案,实现了基于测试系统对模拟开关皮安级漏电流进行测试。与使用安捷伦B1500A对ADG436电路的漏电流测试结果进行了对比,两者一致性较好。实验结果表明,基于T861测试系统的I-V转换方法测试模拟开关的漏电流具有较高的测量精度,能够满足ADG436型模拟开关的皮安级漏电流测试需求。
- 韩先虎张凯虹王建超郭晓宇
- 关键词：模拟开关漏电流
- 一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法
- 本发明涉及集成电路测试技术领域，特别涉及一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，包括信号驱动模块和自动测试系统；所述信号驱动模块通过接入所述自动测试系统产生的方波信号DDD，输出可调幅度的方波信号SIG，并作为输入信...
- 李灿程法勇王建超郭晓宇
- 基于ATE的千兆以太网收发器芯片测试方法被引量：2
- 2023年
- 千兆以太网收发器芯片是一种最高能支持1000 Mbit/s传输速率的高速接口芯片。介绍了该类芯片的功能、硬件配置,针对ATE测试机台设计了相应的外围电路,在ATE测试机台上进行了寄存器读写测试和回环测试,利用测试机抓取了千兆以太网芯片输出的数据,测试结果验证了千兆以太网收发器芯片的功能正确性。
- 谢凌峰武新郑王建超
- 关键词：ATE
- 基于ATE的SIP数字温度传感器测试方法
- 2025年
- 常规的数字温度传感器芯片测试通常需要使用支持该芯片通信协议的上位机进行初步配置,再通过专门的测试设备进行集成电路测试。然而,这种方式存在硬件复杂、流程繁琐等缺点,导致其测试成本增加,批量测试难度提高。为此,介绍了一种基于两线制通信时序的数字ATE(自动化测试设备)测试方法,用于生成数字温度传感器的主要功能测试向量。以SD5075数字温度传感器为例,研究了基于ATE的两线制通信数字温度传感器的测试程序,并覆盖了电路交流、直流参数自动测试,优化了测试向量时序,从而提升了ATE与数字温度传感器电路之间两线制通信的稳定性。
- 聂中天孙磊杜元勋王建超
- 关键词：数字温度传感器集成电路测试
