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文献类型

  • 4篇中文专利

主题

  • 2篇铁矿
  • 2篇硼镁铁矿
  • 1篇电感耦合
  • 1篇电感耦合等离...
  • 1篇氧化硅
  • 1篇氧化镁
  • 1篇氧化硼
  • 1篇荧光
  • 1篇圆台
  • 1篇制样
  • 1篇生铁
  • 1篇钳口
  • 1篇钻头
  • 1篇稀盐酸
  • 1篇离子
  • 1篇内控
  • 1篇卡具
  • 1篇混酸
  • 1篇光谱
  • 1篇光谱法

机构

  • 4篇鞍钢股份有限...

作者

  • 4篇赵竞泽
  • 4篇王晓旭
  • 2篇张勋
  • 2篇邱蒙
  • 2篇张丽丽
  • 2篇陈英丽
  • 2篇张辉
  • 2篇雷学斌
  • 1篇田秀梅
  • 1篇林之春
  • 1篇张建安
  • 1篇韩丽丽
  • 1篇王炳琨

年份

  • 1篇2019
  • 1篇2017
  • 1篇2016
  • 1篇2014
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
一种快速测定二氧化硅的方法
本发明涉及一种快速测定二氧化硅的方法,该方法包括试样制备、试样分析过程,将用于化学分析的<100目的试样用过氧化钠熔融,以水将熔融物冲洗于盛有盐酸的烧杯中溶解,定容后分取试液置于容量瓶中,加稀盐酸、钼酸铵溶液,混匀,放置...
赵竞泽王晓旭田秀梅王炳琨张勋桑妍张丽丽雷学斌张辉陈英丽
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一种应用于生铁制样的装置
本实用新型涉及一种应用于生铁制样的装置,包括卡钳、生铁样卡具,生铁样卡具放置在卡钳的钳口上,生铁样卡具由对称的两块卡块组成,卡块上以一侧边沿为中心线,上部设有半圆台凹槽,半圆台凹槽的一端设有方形槽,半圆台凹槽下部设有贯通...
邱蒙赵竞泽王晓旭张建安
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一种分析硼镁铁矿中氧化硼、氧化镁、氧化硅含量的方法
一种分析硼镁铁矿中氧化硼、氧化镁、氧化硅含量的方法,利用电感耦合等离子体发色光谱法(ICP-AES)检测硼镁铁矿中“B<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、MgO、SiO<Sub>2</Sub>”成分含量。...
赵竞泽林之春王晓旭
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一种X射线荧光粉末压片法分析硼镁铁矿的方法
一种X射线荧光粉末压片法分析硼镁铁矿的方法,包括以下步骤:1)用已知各元素含量的硼镁铁矿建立标准曲线:采用X射线荧光光谱仪测定样片元素发射强度,利用对一系列内控标样测量得到各元素的发射强度,结合各元素在试样中的质量百分含...
赵竞泽王晓旭邱蒙张勋桑妍张丽丽陈英丽韩丽丽雷学斌张辉
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共1页<1>
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