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孙长春

作品数:8 被引量:17H指数:2
供职机构:北京大学物理学院技术物理系更多>>
发文基金:国家自然科学基金教育部重点实验室基金更多>>
相关领域:理学核科学技术医药卫生电子电信更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 3篇会议论文
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇理学
  • 3篇核科学技术
  • 1篇电子电信
  • 1篇医药卫生

主题

  • 3篇沟道
  • 2篇带电粒子
  • 2篇电粒子
  • 2篇离子注入
  • 2篇沟道效应
  • 2篇辐照损伤
  • 2篇GAN
  • 1篇电学
  • 1篇电学特性
  • 1篇电子直线加速...
  • 1篇电阻率
  • 1篇直线加速器
  • 1篇试验束
  • 1篇束流
  • 1篇束流线
  • 1篇酸酯
  • 1篇碳酸酯
  • 1篇谱仪
  • 1篇显微硬度
  • 1篇力学性能

机构

  • 7篇北京大学
  • 2篇中国科学院
  • 1篇中国科学技术...

作者

  • 8篇孙长春
  • 6篇姚淑德
  • 5篇周生强
  • 5篇孙昌
  • 3篇张亚伟
  • 2篇吴名枋
  • 2篇焦升贤
  • 2篇李家才
  • 2篇张少平
  • 1篇陈子瑜
  • 1篇张良生
  • 1篇刘士兴
  • 1篇吴元明
  • 1篇阴泽杰
  • 1篇沈激
  • 1篇周宝庆
  • 1篇郑林生
  • 1篇张永明
  • 1篇张彩娣
  • 1篇张竹湘

传媒

  • 2篇原子能科学技...
  • 1篇高能物理与核...
  • 1篇核电子学与探...
  • 1篇2001年超...
  • 1篇CCAST“...

年份

  • 3篇2004
  • 2篇2003
  • 3篇2001
8 条 记 录,以下是 1-8
排序方式:
BEPC电子直线加速器束流线改进和e,π试验束被引量:12
2004年
在BEPC电子直线加速器上建立起了E1,E2 ,E3试验束 ,其中E1初级束专门提供给强流慢正电子装置应用 ,E2束是初级正 /负电子束 ,E3为次级高能e± ,π± 和质子等单粒子试验束 ,其动量连续可调 .粒子定位误差 0 .2— 0 .4mm ,混合负粒子计数率 3— 4Hz .已成功地为BESⅢ的TOF探测器模型测试提供试验束流 .
李家才吴元明崔象宗张良生周宝庆刘正全张少平刘士兴孙长春沈激阴泽杰张永明陈子瑜张竹湘张彩娣郑林生
关键词:试验束BEPC束流BES电子直线加速器计数率
GaN的离子辐照效应
首先采用背散射/沟道(RBS/channeling)技术分析了GaN的结构参数、结晶品质,然后注入He+,N离子,研究注入产生的电阻变化和晶格损伤.在不同的温度下,氮气保护退火30分钟,用Hall法测量电阻率,发现GaN...
周生强姚淑德焦升贤孙长春孙昌
关键词:GAN电阻率离子注入辐照损伤
文献传递
离子注入聚碳酸酯表面力学性能改变研究被引量:3
2004年
将B+和O+离子分别注入到高分子化合物聚碳酸酯(PC)中,PC的表面显微硬度和耐磨性能均得到了较大提高。用纳米硬度计测量注入前后PC的显微硬度,硬度提高了7~25倍。用球盘式磨损实验机测量注入前后PC的耐磨性能,磨痕的宽度比未注入的窄,最窄的磨痕(或最窄处)为未注入磨痕宽度的1/3~1/2。傅里叶变换红外光谱(FTIR)测试表明,注入前后高分子的结构发生了变化。
孙昌姚淑德周生强孙长春
关键词:表面显微硬度傅里叶变换红外光谱聚碳酸酯耐磨性能力学性能
高能正电子面沟道辐射的理论研究与实验准备
该文首先对高能正电子(~GeV)的面沟道辐射进行了理论研究和分析,然后设计了具有较高探测效率的高能γ光子谱仪,最后建立一套沟道辐射实验装置,同时也对实验大厅的本底进行了蒙特卡洛模拟计算.该文内容主要分为三章:第一章主要对...
孙长春
关键词:沟道效应沟道辐射
He^+、N^+注入GaN的背散射和电学特性研究
2003年
采用背散射/沟道(RBS/channeling)技术分析了GaN的物理性质和结晶品质。研究了He+、N+注入所引起的GaN的电阻变化和与退火温度的关系。在不同温度下,氮气保护退火30min,用Hall法测量电阻率。测量结果表明:GaN的电阻率增大7~8个数量级。在200~400℃下退火,电阻率变化最大。经高温(600~700℃)退火后,电阻率仍比注入前大3~4个数量级。
周生强姚淑德焦升贤孙长春孙昌
关键词:GAN背散射电学特性辐照损伤氦离子
带电粒子的沟道效应研究
本文对带电粒子的沟道效应研究正在逐步深入.背散射/沟道分析是判定材料结晶品质优劣的重要手段,应用范围由金属推广到半导体、光电材料等薄膜样品,用沟道分析首次得到高结晶品质的GaN的Xmin=1.17%(1),GaN及InG...
姚淑德吴名枋周生强孙长春孙昌张亚伟
关键词:带电粒子沟道效应晶格常数
文献传递
带电粒子的沟道效应研究
对带电粒子的沟道效应研究正在逐步深入.背散射/沟道分析是判定材料结晶品质优劣的重要手段,应用范围由金属推广到半导体、光电材料等薄膜样品,用沟道分析首次得到高结晶品质的GaN的Xmin=1.17%,GaN及InGaN的晶格...
姚淑德吴名枋周生强孙长春孙昌张亚伟
文献传递
高能γ光子CsI(Tl)谱仪的研究与设计被引量:2
2004年
利用EGS4程序包模拟研究了6.6MeV的高能γ光子在CsI闪烁体中的运动行为,决定了探测这种能量γ光子所需CsI晶体的大小。根据模拟计算和实验的要求,设计了CsI(Tl)γ光子谱仪。用137Cs和22Na源对谱仪的测试表明,此探测器具有较好的探测效率,在0.662MeV的光电峰上可以达到74%。模拟计算对3.3和6.6MeV的光电峰可以分别达到37.12%和23.00%。
孙长春李家才姚淑德张亚伟张少平
关键词:Γ谱仪反符合
共1页<1>
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