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吴自勤

作品数：129 被引量：366H指数：12
供职机构：中国科学技术大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金国家教育部博士点基金浙江省自然科学基金更多>>
相关领域：理学电子电信一般工业技术金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 107篇期刊文章
  • 22篇会议论文

领域

  • 68篇理学
  • 27篇电子电信
  • 21篇一般工业技术
  • 11篇金属学及工艺
  • 9篇机械工程
  • 6篇生物学
  • 6篇环境科学与工...
  • 3篇化学工程
  • 2篇核科学技术
  • 2篇文化科学
  • 1篇经济管理
  • 1篇天文地球
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇历史地理

主题

  • 32篇分形
  • 12篇多重分形谱
  • 11篇双层膜
  • 9篇晶化
  • 8篇非晶
  • 8篇半导体
  • 8篇X射线
  • 7篇计算机
  • 7篇锗
  • 7篇AU
  • 7篇PD
  • 6篇荧光
  • 6篇退火
  • 6篇合金
  • 6篇二次电子
  • 5篇多层膜
  • 5篇射线
  • 5篇重元素
  • 5篇计算机模拟
  • 4篇弹性散射

机构

  • 118篇中国科学技术...
  • 21篇中国科学院
  • 11篇中国科技大学
  • 6篇浙江工业大学
  • 4篇北京大学
  • 4篇上海交通大学
  • 2篇福州大学
  • 2篇兰州大学
  • 2篇清华大学
  • 2篇有色金属研究...
  • 1篇河海大学
  • 1篇安徽大学
  • 1篇复旦大学
  • 1篇钢铁研究总院
  • 1篇北京科技大学
  • 1篇北京有色金属...
  • 1篇南京大学
  • 1篇澳大利亚国立...
  • 1篇四川大学
  • 1篇中国传媒大学

作者

  • 129篇吴自勤
  • 23篇孙霞
  • 15篇张庶元
  • 12篇王晓平
  • 12篇丁泽军
  • 10篇康士秀
  • 9篇黄宇营
  • 9篇沈显生
  • 8篇巨新
  • 7篇陈志文
  • 7篇李凡庆
  • 6篇吴锋民
  • 6篇巴龙
  • 6篇谭舜
  • 6篇刘文汉
  • 5篇王衍
  • 5篇王兵
  • 5篇侯建国
  • 4篇赵特秀
  • 4篇唐涛

传媒

  • 38篇物理
  • 27篇电子显微学报
  • 16篇物理学报
  • 4篇科学通报
  • 3篇计算物理
  • 3篇极地研究
  • 2篇中国科学技术...
  • 2篇核技术
  • 2篇北京同步辐射...
  • 2篇第二届全国扫...
  • 2篇第七次全国电...
  • 1篇金属学报
  • 1篇中国科学（A...
  • 1篇物理学进展
  • 1篇福州大学学报...
  • 1篇武汉植物学研...
  • 1篇材料导报
  • 1篇稀有金属
  • 1篇光谱学与光谱...
  • 1篇金属功能材料

年份

  • 1篇2015
  • 2篇2010
  • 2篇2007
  • 3篇2005
  • 4篇2004
  • 3篇2003
  • 12篇2002
  • 15篇2001
  • 6篇2000
  • 7篇1999
  • 7篇1998
  • 7篇1997
  • 6篇1996
  • 4篇1995
  • 10篇1994
  • 16篇1993
  • 4篇1992
  • 4篇1991
  • 5篇1990
  • 5篇1989
共 129 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
人造软X射线单色器结构与性能的模拟计算被引量：1
1989年
本文用计算机模拟计算的方法较详细地研究了W/C和Mo/Si人工多层膜x射线单色器结构与性能的关系。得到了多层膜层数和多层膜膜厚偏差对x射线衍射峰峰度、峰宽影响的一系列数据。本文还比较了膜厚无规涨落与系统线性偏差这两种偏差对单色器能量分辨率的影响,计算的结果表明后者的危害较大。
刘文刘文汉吴自勤
关键词：X射线单色器模拟计算
X光光谱仪探测效率的测定以及在定量分析中的应用
＜正＞ 本文介绍在日立X—650扫描电子显微分析仪上对X光光谱仪探测效率T的测定工作。利用探测效率作定量成份分析不仅可以减少测试工作量,而且可以解决某些难以制备的纯元素标样问题。并可逐步过渡到和X光能谱仪连机使用。一、探...
徐力元洁吴自勤段建中
文献传递
TiN/TaN多层膜原子力显微镜图像的多重分形谱被引量：2
2000年
熊刚孙霞刘文汉吴自勤
关键词：氮化钛多层膜原子力显微镜多重分形谱
超大规模集成电路的一些材料物理问题(Ⅱ)──尺寸缩小带来的巨大挑战被引量：3
2002年
随着CMOS技术缩至 10 0nm或更小 ,在CMOS器件结构、接触电阻以及大直径硅晶片等方面均遇到一些材料物理的巨大挑战 .
刘洪图吴自勤
关键词：超大规模集成电路接触电阻自对准硅化物材料物理尺寸缩小
互补的微分析方法—扫描电子显微术和扫描探针显微术
2002年
本文介绍扫描电子显微术 (SEM)和扫描探针显微术 (SPM)这两种最常用的微分析方法的新进展。简述了它们各自的构成、工作原理。
王晓平李凡庆吴自勤
关键词：扫描电子显微术SEMSPM
含笼状Si_（20）的金属硅化物的合成和物性
1995年
含笼状Ｓｉ＿（２０）的金属硅化物的合成和物性随着Ｃ６０等富勒烯和Ｍ３Ｃ６０（Ｍ＝Ｋ，Ｒｂ等）超导材料研究的巨大进展，人们对其他含笼状团簇化合物的探索正在加紧进行。１９９５年日本学者在《固体物理》期刊上介绍了含笼状Ｓｉ２０的金属Ｓｉ化物、特别是对Ｎａ２...
吴自勤
关键词：物理性质
聚合物PtBuA薄膜不同温度下的AFM图像及其多重分形谱
孙霞王晓平吴自勤
文献传递
用软X射线进行无标样定量分析
1989年
目前低压扫描电镜已得到发展,相应地低压电子探针定量分析也需要发展。本文用NBS的Cu—Au合金、GaAs、GaP和InP等标样,对三种商用EDS (EDAX9100,TN5500和Kevex8000)在5～30 kev下的无标样定量分析结果进行了比较,指出了提高低压电子探针定量分析准确性需要解决的问题。
元洁徐力吴自勤万德锐张宜徐淑霞
关键词：X射线无标样金属材料
非晶态半导体／金属薄膜的分形晶化被引量：3
1994年
本文综述非晶态半导体／金属薄膜退火过程中金属诱导非晶态半导体晶化的研究，综述对若干非晶态半导体与金属组成的薄膜（Ｇｅ－Ａｕ、Ｇｅ－Ａｇ、Ｇｅ－Ａｌ、Ｇｅ－Ｓｅ、Ｇｅ－ｐｄ、Ｓｉ－Ａｇ、Ｓｉ－Ａｌ、Ｓｉ－ｐｄ、Ｓｉ－Ｃｕ、ｓｉｃ－Ａｌ、Ｓｉ＿３Ｎ＿４－Ａ１）晶化后形成的图形进行的分形研究，内容包括分形形成的实验规律、根据微结构电镜观测结果提出的随机逐次成核模型、以及对分形晶化进行的计算机模拟。
吴自勤张人佶
关键词：晶化过程金属薄膜非晶半导体晶核
Mott对凝聚态物理学的重大贡献——纪念Mott诞辰100年被引量：2
2005年
吴自勤
关键词：凝聚态物理学THOMSON物理学家物理系母亲
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