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文献类型

  • 9篇中文期刊文章

领域

  • 7篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...

主题

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  • 1篇制程
  • 1篇熔丝
  • 1篇软件实现
  • 1篇数据拟合

机构

  • 9篇中国电子科技...

作者

  • 9篇张亚军
  • 3篇姚锐
  • 2篇陈利新
  • 1篇郭大琪
  • 1篇陶雪峰
  • 1篇周淳
  • 1篇倪晓丽

传媒

  • 9篇电子与封装

年份

  • 1篇2020
  • 1篇2018
  • 1篇2015
  • 1篇2013
  • 1篇2012
  • 1篇2009
  • 2篇2004
  • 1篇2003
9 条 记 录,以下是 1-9
排序方式:
最小二乘法和熔丝编程被引量:1
2012年
文章对模拟电路熔丝存在的原因、常见材料和常用的熔丝编程方式做了基本的介绍,由一个真实案例引入了和传统熔丝编程方案有所不同的熔丝编程算法——最小二乘法(数据拟合)。着重介绍了最小二乘法在测试采样数据呈线性关系时的一次线性方程的拟合,并给出了具体的求解过程和系数计算公式。通过实例对比了传统熔丝编程和最小二乘法熔丝编程两种算法产生"精品"电路的差异。最后提出了使用最小二乘法算法进行熔丝编程的一些注意事项,同时介绍了一些和其类似的算法。
张亚军陈利新
关键词:数据拟合模拟电路最小二乘法
集成电路FT制程高压测试方法研究被引量:1
2015年
随着经济发展和科学技术的进步,集成电路(Integrated Circuit)产业保持着持续、快速的发展。作为集成电路产业链中的一个重要环节,集成电路测试在评价集成电路电性能、质量和可靠性等方面提供了有力的技术支撑,其中集成电路高压测试是进行电源管理、高压驱动等一系列芯片耐压单元性能检测的重要环节。主要研究集成电路成品高压测试过程中存在的一些问题以及相应的解决方案。
姚锐周淳张亚军倪晓丽
关键词:集成电路高压测试电源管理
陶封DIP在平移式自动化设备上的测试筛选研究被引量:1
2020年
目前市面上平移式自动化筛选设备能支持筛选的集成电路封装形式主要有SOP、BGA、QFN、QFP、CSP等,却无DIP封装(Dual In-Line Package,双列直插式封装)。讨论了DIP陶瓷封装在平移设备上筛选的难点,一是DIP封装的集成电路管脚长,导致集成电路在自动筛选过程中搬运困难;二是集成电路测试前后在测试座中插拔困难。针对两个难点需对平移设备进行定制性改造,研制设计出相关机构配合平移设备使用。经过多次的试验验证,最终解决了平移设备上无法测试筛选DIP封装集成电路的问题,增强了平移设备的生产兼容性,填补了市场空白。
姚锐李文斌张亚军
关键词:集成电路DIP陶瓷封装平移
全自动IC编带机封压机构研究被引量:1
2018年
随着集成电路全产业链的迅猛发展,芯片版图面积大幅缩减,封装技术集成创新,器件微型化和SMT技术规模应用因其可靠、防震和稳定性已成为趋势。传统的料条、托盘等器件出货方式逐步被编带所取代。为了更好地匹配后道SMT设备的高速运转,对于编带的封压效果(载带和盖膜粘合)提出更高的要求。对全自动IC编带机封压机构进行了介绍,对一体式封压机构的改进进行了探讨。
姚锐张亚军
关键词:集成电路编带
便携式电子产品电路的封装趋势被引量:1
2004年
本文主要描述了便携式电子产品的封装趋势。趋势就是采用芯片级产品电路的MCM封装, 包括SIP和3D封装。这些芯片级产品可以以FC方式或COB方式安装在封装体中。
张亚军郭大琪
关键词:便携式电子产品多芯片模块封装
FT中的OS失效及应对措施被引量:1
2009年
科学技术的进步促使集成电路产业迅猛发展,"摩尔定律"还在继续着它的预言,集成电路变得日益"娇小",但单块硅芯片上所集成的晶体管数目却数量惊人,实现的功能更为强大,如何判断功能复杂的芯片是否实现预期的效果成为IC产业中非常重要的步骤。作为集成电路产业链中重要的一环:测试也是机遇和风险并存。FinalTest是集成电路投入市场前的重要环节,测试结果的真实性、可靠性将直接影响到供应商的销售利润及公司声誉。文章抛开那些复杂的测试项目,分析了FinalTest中常见的OS(Open/Short)失效案例及其应对措施。
张亚军陈利新
PIC系列单片机在低频率脉冲信号测量中的应用被引量:2
2003年
本文主要介绍PIC系列单片机在低频率脉冲信号测量中的应用。
张亚军
关键词:单片机频率测量芯片
一种串并结合的多Site熔丝编程算法
2013年
随着集成电路产业的迅猛发展,熔丝修调越来越广泛地应用于集成电路测试工序,熔丝段数目随着需要修调参数的增多而逐步增长,传统的串行熔丝编程方案程序存在代码长、可维护性差、执行时间长等缺点,为了改进代码的可读性和可维护性,文章引进了改进型算法,但对测试执行时间没有任何改善。随着测试代工市场竞争日益激烈,多Site测试方案被广泛使用,但是熔丝编程还继续着串行编程的老算法,Site数目越多,熔丝编程时间越长。针对以上,文章提出了一种串并结合的多Site熔丝编程算法,将多Site熔丝编程时间控制在和单Site熔丝串行编程时间几乎一致。
张亚军陶雪峰
利用软件实现延时的精确计算方法
2004年
本文主要介绍了在PIC系列单片机中如何用软件实现延时的精确计算方法。
张亚军
关键词:PIC系列单片机延时计算方法
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