您的位置: 专家智库 > >

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 2篇单晶
  • 2篇位错
  • 1篇锗单晶
  • 1篇位错密度
  • 1篇温度梯度
  • 1篇P型
  • 1篇VGF
  • 1篇GAAS单晶
  • 1篇GAAS晶体

机构

  • 2篇中国电子科技...

作者

  • 2篇兰天平
  • 2篇周传新
  • 1篇周春锋
  • 1篇牛沈军
  • 1篇孙强
  • 1篇李仕福
  • 1篇王建利
  • 1篇刘津

传媒

  • 1篇半导体技术
  • 1篇人工晶体学报

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2007
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
p型Ge单晶VGF生长位错抑制研究被引量:4
2016年
垂直梯度凝固(VGF)法在单晶生长时温度梯度低,热应力小,是目前制备大尺寸、低缺陷晶体的首选方法。在不同的工艺条件下开展了p型VGF锗单晶生长实验研究。通过控制不同温区的温度和降温速率来减小生长温度梯度和晶体内部的应力。在保证VGF锗单晶成晶率的前提下,明显降低了锗单晶的位错密度和位错排的数量。研究发现,温度梯度在2~3℃·cm^(-1)内可保证单晶生长且使4英寸(1英寸=2.54 cm)锗单晶片平均位错密度降低到3 000 cm^(-2)以下。此外对VGF法生长锗单晶表面沟槽的形成原因进行了分析研究。
周春锋兰天平周传新
关键词:P型锗单晶位错
VB法生长低位错GaAs单晶被引量:4
2007年
用于激光二极管(LD)和发光二极管(LED)的GaAs晶片,要求其具有低的位错密度(EPD)。为了获得低位错密度的GaAs晶片,必须先得到低位错密度的体单晶。我们采用垂直布里奇曼(VB)法分别得到了2英寸和3英寸的GaAs单晶,单晶长度可达10cm,平均位错密度5000cm-2。通过改变加热器结构,改善轴向和径向的温度梯度,优化了生长时的固液界面,得到的单晶长度达20cm,平均位错密度为500cm-2,最大位错密度小于5000cm-2。
王建利孙强牛沈军兰天平李仕福周传新刘津
关键词:位错密度GAAS晶体温度梯度
共1页<1>
聚类工具0