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文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

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主题

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  • 1篇系统芯片
  • 1篇芯片
  • 1篇逻辑电路
  • 1篇逻辑优化
  • 1篇逻辑综合

机构

  • 3篇浙江大学

作者

  • 3篇严晓浪
  • 3篇陈必龙
  • 2篇何乐年
  • 1篇梁中书
  • 1篇余龙理
  • 1篇沈海斌
  • 1篇陆思安

传媒

  • 1篇微电子学与计...
  • 1篇微电子学
  • 1篇中国集成电路

年份

  • 1篇2004
  • 2篇2002
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
集成电路的高层综合与逻辑综合被引量:1
2002年
综合是在库的支持下,将行为级描述的电路转化到门级网表。它主要包括高层次综合、逻辑级优化和门级优化三个阶段。综合是由电路的高层次描述生成带时序信息门级电路,用于后端的设计,因此,综合是前端设计中最重要的步骤之一。本文论述了综合的各个步骤,并讨论了当前的综合工具中存在的一些问题。
陈必龙沈海斌何乐年严晓浪
关键词:有限状态机模型逻辑综合集成电路组合逻辑电路时序逻辑电路逻辑优化
CPU中可伸缩低开销的硬件调试器设计被引量:7
2004年
介绍了一种基于JTAG的片上调试的低开销、可伸缩、支持“非侵入性”调试的硬件实现方法。该实现方法是通过在片上调试模块中引入一组映像寄存器,用于跟踪和设置CPU的状态。使用该方法避免了在CPU的关键路径上插入扫描链而限制了CPU性能提高的缺点。此外,本文还阐述了精确硬件断点的实现方法,调试模块实时监视数据地址总线和指令地址总线,当地址与预设值吻合时使CPU进入调试模式,该实现方法支持在程序全速运行时在断点处进入调试模式。本文所提出的方法已经在CK520嵌入式CPU中得到应用和证明。
梁中书陈必龙严晓浪王界兵
关键词:JTAGCPU断点
面向系统芯片的验证策略被引量:12
2002年
随着集成电路的设计规模不断增大 ,芯片的验证工作变得越来越重要。文章首先回顾了一些常用的验证技术 ,然后分别讨论了 SOC设计中所要进行的模块单独验证、芯片的全功能验证以及系统的软。
陆思安余龙理陈必龙何乐年严晓浪
关键词:SOC仿真静态时序分析软硬件协同验证
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