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王炎辉

作品数：2 被引量：1H指数：1
供职机构：上海大学更多>>
相关领域：电子电信交通运输工程机械工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇机械工程
  • 1篇交通运输工程

主题

  • 2篇电路
  • 2篇集成电路
  • 1篇电路测试
  • 1篇自测试
  • 1篇芯片
  • 1篇芯片测试
  • 1篇内建自测试
  • 1篇可测性
  • 1篇可测性设计
  • 1篇核设计
  • 1篇SOC测试
  • 1篇SOC系统
  • 1篇DSP芯片
  • 1篇IP核

机构

  • 2篇上海大学

作者

  • 2篇王炎辉
  • 1篇杨松华
  • 1篇何仑

传媒

  • 1篇计算机测量与...

年份

  • 2篇2005
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
DSP芯片的可测性设计研究
随着深亚微米集成电路技术的不断成熟，集成电路规模的不断扩大，系统芯片测试的复杂度远远超出了人们的想象。芯片的测试问题成为制约整个行业发展的瓶颈。如何在设计初期就开始考虑并解决设计完成后的测试问题，已经是芯片设计领域的重要...
王炎辉
关键词：可测性设计内建自测试集成电路芯片测试
文献传递
一种基于核设计的SOC测试控制体系结构被引量：1
2005年
随着集成电路复杂性的提高和SOC系统的出现,电路测试的难度也在不断增大,测试问题已经成为SOC设计的瓶颈。在研究了现存的测试控制结构后提出了基于核设计的SOC测试控制结构,它以边界扫描控制体系为基础,融合多种测试控制方法,支持不同类型的IP核进行测试。从而解决了SOC测试中控制部分的一些问题。
王炎辉何仑杨松华
关键词：SOC测试核设计SOC系统集成电路电路测试IP核
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