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徐三子

作品数:8 被引量:13H指数:2
供职机构:合肥工业大学计算机与信息学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家教育部博士点基金安徽省高校省级自然科学研究项目更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信更多>>

文献类型

  • 6篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 6篇自动化与计算...
  • 2篇电子电信

主题

  • 8篇数据压缩
  • 8篇测试数据
  • 8篇测试数据压缩
  • 2篇块编码
  • 2篇分块
  • 2篇分块编码
  • 2篇测试集
  • 1篇游程
  • 1篇片上系统
  • 1篇SOC

机构

  • 8篇合肥工业大学
  • 6篇阜阳师范学院

作者

  • 8篇徐三子
  • 5篇刘杰
  • 5篇梁华国
  • 3篇顾婉玉

传媒

  • 2篇计算机研究与...
  • 1篇仪器仪表学报
  • 1篇合肥工业大学...
  • 1篇计算机工程
  • 1篇电子测量与仪...

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2011
  • 4篇2010
  • 2篇2009
8 条 记 录,以下是 1-8
排序方式:
基于幂次划分和分块编码的SoC测试数据压缩方法的研究
随着集成电路设计与制造工艺的不断进步以及单个芯片集成度的提高,特别是片上系统SoC/(System-on-a-Chip/)的出现,使得电路系统上所集成的IP/(Intellectual Property Core/)核越...
徐三子
关键词:片上系统数据压缩分块编码
文献传递
基于对称编码的综合测试压缩方案被引量:4
2012年
应对大规模数字集成电路测试面临的日益严峻的挑战,在测试位重组基础上提出由游程赋值策略和对称编码组成的综合压缩方案。该赋值策略能够动态填充无关位,减少不必要的游程分裂,尽可能最大化游程长度。提出的对称编码受益于测试位重组和游程赋值所增加的长游程和端连续块,不仅提高码字的利用率,还能够用固定的4位短码字标识长达模式位数的端连续块,减少编码位数。给出的实验结果表明了所提综合压缩方案获得了较高的数据压缩率,远高于已发表的各类压缩方案,并且能够大量减少功耗。因而,该综合压缩方案具有较高的实用性,特别对于大规模集成电路测试,其效果更佳。
刘杰徐三子
关键词:测试数据压缩
一种基于响应中无关位填充的测试数据压缩方法
2010年
提出一种测试数据压缩方案,利用测试向量与扫描链中响应数据的分块相容,进一步增加被编码测试向量中的无关位;降低了线性反馈移位寄存器中编码种子的度数,最终达到压缩测试数据的目的.该方案不增加额外的测试向量,解压电路简单,仅需一个LFSR和简单的控制逻辑.
顾婉玉梁华国徐三子
关键词:测试数据压缩
用于编码压缩的测试位重组算法被引量:2
2010年
测试集中分布的大量短游程限制了经典编码压缩方案的压缩效率。针对该问题,提出一种测试位重组算法,采用一种贪婪方案把某一种电平集中到测试模式的一端,从而减少短游程。实验结果表明,与使用优化差分算法的经典压缩方案相比,使用该算法的编码压缩方案不仅能获得更高的压缩率,还能降低测试功耗。
刘杰徐三子
关键词:测试数据压缩测试集
基于无关位动态赋值的幂次划分测试压缩方案被引量:2
2010年
随着集成电路制造工艺的不断发展,单芯片的集成度越来越高,通过集成各种IP核,系统芯片的功能更加强大,但同时也带来了测试数据量的快速增加.提出了一种幂次划分测试数据压缩方法,它将测试数据按照2的幂次长度划分成4种类型,对分块中无关位进行填充后,再依据一种码表对每个分块进行编码.与传统的编码压缩方法相比,方案进一步提高了压缩率.
徐三子梁华国顾婉玉刘杰
关键词:测试数据压缩
一种基于分块编码和优化排序的测试数据压缩技术被引量:5
2009年
为了有效地降低数字集成电路测试成本,提出了一种编码压缩方案和测试排序算法。这种压缩方案就是把每一个测试模式分成固定长度的块,并根据相邻测试模式的对应块是否相容和一位相异进行编码。同时采用贪婪的排序算法对编码过程中所有测试模式进行动态排序,寻找一种最佳压缩顺序,以便进一步发挥所提方案的压缩效果。文章最后给出了该方案的解压思想和实验结果,证明了该方案能够提高数据压缩率,降低附加硬件开销,优于已知的其他测试数据压缩方案。
刘杰梁华国徐三子
关键词:测试数据压缩分块
端标记交替-连续编码测试数据压缩技术被引量:1
2009年
为了提高测试数据压缩率,根据预先计算测试集的特点,文章提出了一种测试位重组算法和端标记交替-连续编码方案。采用一种算法对测试集所有模式的测试位进行重排,以便把模式中零散的0或1集中到测试模式的一端,增加长游程的长度,减少短游程的存在;采用码字重用对模式中的交替块、连续块和端连续块分别进行编码;通过给出的译码电路和实验结果,表明了本文编码压缩技术不仅获得很高的数据压缩率,还降低了测试功耗。
刘杰梁华国徐三子
关键词:测试数据压缩测试集
基于无关位动态赋值的幂次划分测试压缩方案
随着集成电路制造工艺的不断发展,单芯片的集成度越来越高,通过集成各种IP核,系统芯片的功能更加强大,但同时也带来了测试数据量的快速增加.本文提出了一种幂次划分测试数据压缩方法,它将测试数据按照2的幂次长度划分成四种类型,...
徐三子梁华国顾婉玉刘杰
关键词:测试数据压缩
文献传递
共1页<1>
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