章慧彬
- 作品数：18 被引量：42H指数：4
- 供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- JS32044码声转换电路测试技术研究
- 2003年
- 本文叙述了JS3 2 0 44码声转换电路的主要功能 ,并对其基本电路的测试方法进行了简要介绍。
- 章慧彬郭良权屠莉敏
- 关键词：AICADCDAC开关电容滤波器
- 一种微系统芯片内部互联线故障快速测试方法
- 本发明涉及一种微系统芯片内部互联线故障快速测试方法，包括故障定位算法、微系统芯片测试板、ATE、测试机台程序，测试方法通过调用故障定位算法生成相应的配置向量和测试向量，同时基于ATE平台设计的测试机台程序调用配置向量对微...
- 陈龙解维坤李荣杰张凯虹章慧彬虞勇坚
- 五种可预置数字均衡器CS7388电路的工作原理和测试方法简介
- 2002年
- 利用A370大规模集成电路测试系统 。
- 章慧彬
- 关键词：数字均衡器
- 基于测试系统的FPGA测试方法研究被引量：2
- 2013年
- FPGA已经成为当今数字化系统硬件设计的核心,全球90%以上的嵌入式系统设计工程师正在使用FPGA进行着各种各样的设计。FPGA的快速发展,为测试厂商带来了新的机遇和挑战,针对FPGA的各种创新测试技术和解决方案不断问世。文章介绍FPGA配置方法,着重介绍了利用测试系统(ATE)直接配置和基于CPLD+FLASH的FPGA配置方法,介绍了FPGA配置模式选择和配置代码生成方法,并以Virtex-II FPGA为例,详细讲述了FPGA配置与测试过程。
- 解维坤万清章慧彬
- 关键词：FPGA
- 基于ATE的大功率功放电路功率测试技术研究被引量：3
- 2020年
- 设计了一种用于集成功率放大器电路的输出功率参数量产自动化测试的方案。该方案结合自动测试系统ATE的特点,利用开关MOS管将较大输出功率的稳压电源整合到一起,既利用到了ATE测试效率高的优点又能利用稳压电源输出功率大且稳定的特性。基于CTA8280测试系统和大功率音频功放电路TDXXXXX,实现了设计的方案,解决了业界对较大输出功率参数的故障覆盖率和生产效率不能兼顾的问题。实验结果及生产数据表明此种方案可以满足输出功率参数测试要求和量产对测试效率的要求。
- 程法勇章慧彬
- 关键词：功率放大器功率测试自动测试系统稳压电源
- 基于JC-5600ATE的单/双电源运算放大器测试方法被引量：3
- 2014年
- 集成运算放大器具有成本低、功能多等优点,可广泛用于自动控制系统、测量仪表等其他电子设备中。近年来集成运放的指标在不断提高,性能也在不断提升,伴随着运算放大器的发展,对用来考核运算放大器指标的测试技术也提出了相应的要求,对测试系统(Automatic Testing Equipment,以下简称ATE)的性能要求也相应变高。阐述了单、双电源集成运算放大器在JC-5600ATE上的测试方法,并分析了两者的测试差异。
- 赵桦章慧彬
- 关键词：测试技术
- 大规模集成电路测试程序开发技术及流程应用被引量：9
- 2017年
- 集成电路测试就是对集成电路进行好坏的判断,通过测量对集成电路的输出响应和预期输出进行比较,以确定或评估集成电路功能和性能的过程。而基于ATE开发完整、稳定、可靠的测试程序,是实现对大规模集成电路自动化快速在线检测最通用、最有效的手段,因此集成电路测试程序开发技术就显得非常重要。
- 章慧彬朱江
- 关键词：ATE参数测试
- 基于ATE的FPGA配置文件生成方法被引量：5
- 2015年
- FPGA是在PAL、GAL、EPLD、CPLD等可编程器件的基础上进一步发展的产物。它是作为ASIC领域中的一种半定制电路而出现的,既解决了定制电路的不足,又克服了原有可编程器件门电路有限的缺点。用Ultra Flex测试系统(ATE)测试FPGA的方法进行阐述,分析了不同电压模式的配置文件产生方法的差异。
- 赵桦章慧彬
- 关键词：FPGA测试技术ATE
- IC长贮存寿命评价方法
- 2013年
- 高可靠长寿命产品在军事、航空航天、电子工业、通信等领域应用越来越广泛,如何保障其可靠性与预测其寿命是值得深入研究的重要问题。越来越多的单位,特别是航空航天系统的单位,对其选用的产品提出了具有32年贮存寿命要求的高可靠性指标。长寿命及超长寿命的电子元器件的贮存寿命评价是以加速试验为评价方法的。建立准确的失效机理及模型是评价正确与否的关键。文章通过收集大量高温贮存及常温贮存的实测数据,建立失效模型,推算出应力条件及相应的加速因子。文中实践证明,通过模型仿真出的贮存寿命具有高的可信度。
- 管光宝尹颖章慧彬
- 测试成本的挑战及对策被引量：8
- 2018年
- 集成电路制造流程极其复杂,包括设计、制造、封装、测试、可靠性等,每个环节都极易引入缺陷,因此每一件半导体产品在交付客户之前都必须经过极为严苛的测试过程,以排除任何可能的缺陷。大量的测试需求使得测试成本越来越高。寻求一种测试方法既能保证芯片质量和可靠性,又能有效控制测试成本,是当前降低测试成本面临的主要挑战。从测试经济学、集成电路产业链发展对测试成本的影响以及可测性设计技术三个方面,介绍了测试成本的挑战和应对措施。
- 章慧彬
- 关键词：自动化测试设备可测性设计内建自测试
