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王全安

作品数:1 被引量:0H指数:0
供职机构:华东师范大学理工学院物理学系更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇衍射仪
  • 1篇原子
  • 1篇X射线衍射仪
  • 1篇EXAFS
  • 1篇Y

机构

  • 1篇华东师范大学

作者

  • 1篇王梅生
  • 1篇王全安

传媒

  • 1篇华东师范大学...

年份

  • 1篇1992
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
用Y-2型X射线衍射仪测EXAFS
1992年
EXAFS谱学是近十几年才发展到实用阶段的一种原子近邻结构的测试方法,有极其广泛的应用,引起国内外学者的重视.以透射法为例其基本原理如图1所示.图中S为样品,其厚度为x;I_o为入射X射线的强度;I为透射X射线的强度;设样品的线吸收系数为μ。
王梅生王全安
关键词:X射线衍射仪原子EXAFS
共1页<1>
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