您的位置： 专家智库 > >

杨光辉

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：中国航空工业第六一八研究所更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇中文专利

主题

  • 1篇电气
  • 1篇电气特性
  • 1篇电子产品
  • 1篇设计方法
  • 1篇特性参数
  • 1篇匹配网络
  • 1篇频率特性分析...
  • 1篇前面板
  • 1篇子产
  • 1篇温度
  • 1篇温度试验
  • 1篇面板
  • 1篇控制系统
  • 1篇机箱
  • 1篇工装
  • 1篇工装设计
  • 1篇航空电子
  • 1篇航空电子设备
  • 1篇闭环
  • 1篇闭环控制

机构

  • 3篇中国航空工业...

作者

  • 3篇杨光辉
  • 2篇连晓棠
  • 1篇郑铁新
  • 1篇赵子楠
  • 1篇韩博
  • 1篇李锋
  • 1篇林琳
  • 1篇陈锋
  • 1篇刘伟
  • 1篇张熙川
  • 1篇丁杰
  • 1篇张露

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2013
  • 1篇2012
共 3 条 记 录，以下是 1-3
全选 清除 导出
排序方式：
一种电子产品温度筛选方案的设计方法
本发明属于电子产品温度筛选技术领域，涉及一种电子产品温度筛选方案的设计方法。本设计方法确定的筛选方案更加符合产品的实际情况，由于进行了验证环节，所以能够保证所确定的温度筛选剖面更加合理，采集的温度更加接近产品的实际响应，...
张熙川连晓棠杨光辉郑铁新李锋张露林琳
文献传递
一种温度试验工艺机箱
本实用新型属于工装设计技术，涉及一种用于温度试验的试验工装设计。包括前面板、后面板、入口滤波板、左面板和右面板。目的是设计出类似航空电子设备机箱同时又能适应可靠性强化试验中温度试验要求的试验工装，保证电子设备在各项功能、...
杨光辉陈锋韩博赵子楠连晓棠
文献传递
闭环控制系统动态性能指标的测试装置
本实用新型提出一种闭环控制系统动态性能指标的测试装置，可以在工程实际中确定闭环控制系统控制器的特性参数、验证闭环控制系统的动态性能指标，使闭环系统的动态性能指标得到量化。本实用新型的技术方案包括：频率特性分析仪、示波器、...
杨光辉刘伟丁杰
文献传递
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0