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李长珍

作品数:2 被引量:9H指数:2
供职机构:中国建筑材料科学研究院更多>>
相关领域:化学工程电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇化学工程
  • 1篇电子电信

主题

  • 2篇镀膜
  • 2篇溅射
  • 2篇磁控
  • 2篇磁控溅射
  • 1篇电性能
  • 1篇镀膜玻璃
  • 1篇铟锡氧化物
  • 1篇膜结构
  • 1篇基片
  • 1篇基片温度
  • 1篇ITO膜

机构

  • 2篇中国建筑材料...

作者

  • 2篇李秀荣
  • 2篇李长珍
  • 2篇刘静

传媒

  • 1篇硅酸盐学报
  • 1篇武汉工业大学...

年份

  • 2篇2000
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
基材温度对铟锡氧化物膜结构与电性能的影响被引量:2
2000年
采用阴极磁控溅射法 ,在不同基片温度 (180~ 30 0℃ )条件下镀覆铟锡氧化物 (ITO)透明导电膜 .由X射线衍射分析试样结构随温度的变化 ,并测试了样品的方块电阻、电阻率、Hall迁移率、载流子浓度等电性能和膜层的可见光透过率 .基片温度为 180℃时 ,ITO膜 (2 2 2 )衍射峰很强 ,具有 [111]方向择优取向 ;随温度的升高 ,(40 0 )、(44 0 )衍射峰增强 ,晶面随机取向增加 ,同时晶粒变大 ,电阻率降低 .30 0℃时晶粒尺寸为 43 .5nm ,电阻率为 6 .8× 10 - 5 Ω·cm .
刘静李秀荣李长珍
关键词:磁控溅射基片温度电性能镀膜
高频电磁屏蔽用ITO膜结构与性能分析被引量:7
2000年
采用阴极磁控溅射法制备用于电磁屏蔽的 ITO透明导电膜 ,方块电阻在 5~ 40 Ω/□范围内。测试不同方块电阻膜层的电阻率、膜厚、可见光透光度、雾度、对 8~ 18GHZ频率范围内电磁波的反射率等性能 ,通过 X射线衍射图谱和 X射线回摆曲线研究膜层的结晶程度和晶粒大小对膜层性能的影响 。
李秀荣刘静李长珍
关键词:磁控溅射镀膜玻璃
共1页<1>
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