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戈文

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：华为技术有限公司更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇中文专利

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 3篇芯片
  • 2篇第二信号
  • 2篇电路
  • 2篇信号
  • 2篇寻址
  • 2篇通用接口
  • 2篇芯片测试
  • 2篇芯片结构
  • 2篇连接器
  • 2篇母板
  • 2篇接口
  • 2篇解码
  • 2篇解码器
  • 2篇测试电路
  • 2篇测试信号
  • 1篇切换

机构

  • 4篇华为技术有限...

作者

  • 4篇戈文
  • 2篇林建军
  • 2篇王新入
  • 2篇杨文进
  • 2篇王宇
  • 2篇李春雷
  • 2篇李益欢
  • 2篇张欣

年份

  • 1篇2019
  • 1篇2017
  • 1篇2008
  • 1篇2006
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
一种测试电路及芯片
本发明实施例提供一种测试电路及芯片，涉及集成电路领域，能够在不需要PAD的情况下，在芯片中集成该测试电路并对每个待测单元的器件参数进行测试，从而在先进工艺下以很小代价换来芯片工艺问题定位能力的提升。该测试电路包括：待测电...
王新入李佳曹国豪戈文
一种芯片通用测试装置及其构建方法
本发明公开了一种芯片通用测试装置，包括一测试母板、一测试子板和一通用接口连接器；测试母板唯一地与一种测试平台对应，并与通用接口连接器的一端连接；测试子板唯一地与一种芯片结构对应，与通用接口连接器的另一端连接；通用接口连接...
张欣杨文进李益欢王宇林建军戈文李春雷
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一种测试电路及芯片
本发明实施例提供一种测试电路及芯片，涉及集成电路领域，能够在不需要PAD的情况下，在芯片中集成该测试电路并对每个待测单元的器件参数进行测试，从而在先进工艺下以很小代价换来芯片工艺问题定位能力的提升。该测试电路包括：待测电...
王新入李佳曹国豪戈文
文献传递
一种芯片通用测试装置及其构建方法
本发明公开了一种芯片通用测试装置，包括一测试母板、一测试子板和一通用接口连接器；测试母板唯一地与一种测试平台对应，并与通用接口连接器的一端连接；测试子板唯一地与一种芯片结构对应，与通用接口连接器的另一端连接；通用接口连接...
张欣杨文进李益欢王宇林建军戈文李春雷
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