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谭伟石

作品数:52 被引量:78H指数:4
供职机构:南京理工大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金江苏省自然科学基金国家教育部博士点基金更多>>
相关领域:理学机械工程金属学及工艺一般工业技术更多>>

文献类型

  • 33篇期刊文章
  • 15篇会议论文
  • 2篇学位论文
  • 1篇专利
  • 1篇科技成果

领域

  • 42篇理学
  • 5篇金属学及工艺
  • 5篇机械工程
  • 4篇一般工业技术
  • 2篇电气工程
  • 2篇文化科学
  • 1篇化学工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇核科学技术

主题

  • 6篇X射线
  • 5篇应变弛豫
  • 5篇散射
  • 5篇弛豫
  • 5篇磁电
  • 5篇磁电阻
  • 5篇X
  • 4篇氧化物
  • 4篇入射
  • 4篇输运
  • 4篇锰氧化物
  • 4篇密度泛函
  • 4篇晶体
  • 4篇溅射
  • 4篇泛函
  • 4篇X射线散射
  • 4篇掺杂
  • 3篇射线
  • 3篇微观结构
  • 3篇掠入射

机构

  • 37篇南京理工大学
  • 29篇南京大学
  • 18篇中国科学院
  • 3篇南京航空航天...
  • 3篇杭州电子科技...
  • 3篇台湾大学
  • 3篇中国科学院上...
  • 3篇国立台湾大学
  • 2篇湖南城市学院
  • 2篇香港大学
  • 1篇哈尔滨工业大...
  • 1篇南昌大学
  • 1篇苏州工业职业...
  • 1篇河南工业职业...
  • 1篇中国药科大学
  • 1篇安徽工程大学

作者

  • 52篇谭伟石
  • 21篇吴小山
  • 14篇蒋树声
  • 12篇蔡宏灵
  • 8篇王海欧
  • 7篇贾全杰
  • 7篇邓开明
  • 7篇刘昊
  • 7篇曹梦雄
  • 6篇吴忠华
  • 4篇丁永凡
  • 4篇郑文莉
  • 3篇唐春梅
  • 3篇林涛
  • 3篇姜晓明
  • 3篇陈宣
  • 3篇杨立
  • 3篇沙昊
  • 3篇时阳光
  • 3篇王兴宇

传媒

  • 8篇核技术
  • 5篇物理学报
  • 3篇北京同步辐射...
  • 2篇物理通报
  • 2篇高能物理与核...
  • 2篇物理化学学报
  • 2篇大学物理实验
  • 2篇北京同步辐射...
  • 1篇物理实验
  • 1篇低温与超导
  • 1篇理化检验(物...
  • 1篇热加工工艺
  • 1篇江西科学
  • 1篇物理与工程
  • 1篇常熟理工学院...
  • 1篇吉林省教育学...
  • 1篇Transa...
  • 1篇第九届全国X...
  • 1篇第十一届全国...
  • 1篇第十五届全国...

年份

  • 2篇2018
  • 2篇2017
  • 2篇2016
  • 1篇2015
  • 2篇2014
  • 2篇2013
  • 5篇2012
  • 1篇2011
  • 4篇2009
  • 4篇2008
  • 1篇2007
  • 5篇2006
  • 3篇2005
  • 5篇2004
  • 6篇2003
  • 4篇2002
  • 2篇2001
  • 1篇1995
52 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
Y0.2Ga0.8-xMnO3晶体结构的RietVeld精修
本文通过探讨A位引入空位对电子掺杂型锰氧化物晶体结构的影响,采用标准固相反应法制备名义成分为Y0.2Ca0 8-xMnO3(x=0~0.2)的粉末多晶样品.对其X射线粉末衍射数据分析显示,掺杂空位浓度范围内,所有样品均呈...
解其云谭伟石蔡宏灵吴小山邓开明
关键词:晶体结构锰氧化物X射线粉末衍射
文献传递
斜入射时光栅衍射特性的理论分析及实验研究被引量:11
2014年
在研究倾斜入射衍射光栅时如何测量光谱波长的基础上,给出了衍射光相对于零级衍射光夹角与倾斜入射光入射角的关系,利用最小衍射角法和等效光栅法测量高压汞灯绿光谱波长,定量分析了在常规衍射光栅实验中斜入射对波长测量结果的影响。
徐美嘉王海林谭伟石
关键词:衍射光栅斜入射
Si缓冲层的生长温度对SiGe组分、结构的影响
本文利用同步辐射X射线高分辨衍射、掠入射表面衍射、原子力显微镜、电子显微镜等手段研究了SiGe外延层的生长质量、组分与作为缓冲层Si的生长温度之间的关系.研究表明,在外延薄膜中Ge的含量为32±2﹪;当Si缓冲层生长温度...
吴小山蔡宏灵谭伟石翟章印吴忠华贾全杰郑鸿祥蒋树声
关键词:生长温度原子力显微镜电子显微镜
文献传递
溅射功率对Fe_(81)Ga_(19)薄膜结构和磁性的影响
2017年
采用射频磁控溅射技术在Sr Ti O_3(100)衬底上制备Fe_(81)Ga_(19)薄膜。利用XRD、AFM和VSM表征了Fe_(81)Ga_(19)薄膜的生长取向、内应力、表面形貌和磁性,研究了不同溅射功率(60~100 W)对Fe_(81)Ga_(19)薄膜结构和磁性能的影响。结果表明,所有薄膜主要以A_2相和L1_2相存在。随着溅射功率的增大,A_2相衍射峰的强度缓慢降低,内应力显著增加,表面粗糙度降低,薄膜的剩余磁化强度和饱和磁化强度明显减小,而矫顽力保持不变,都为50 Oe。
马亚茹曹梦雄王兴宇马春林周卫平谭伟石
关键词:溅射功率微观结构磁性
调制掺杂Al_xGa_(1-x)N/GaN异质结构的微应变被引量:1
2002年
用MOCVD方法在 (0 0 0 1)取向的蓝宝石 (α -Al2 O3)衬底上生长了不同势垒层厚度的Al0 .2 2Ga0 .78N/GaN异质结构 ,利用高分辨X射线衍射 (HRXRD)测量了其对称反射 (0 0 0 2 )和非对称反射 (10 14 )的倒易空间图 (RSM )。分析结果表明 ,势垒层内部微结构与应变状态和下层i -GaN的微结构与应变状态互相关联 ,当厚度大于 75 0 时 ,势垒层开始发生应变弛豫 ,临界厚度大于5 0 0 。势垒层具有一种“非常规”应变弛豫状态 ,这种状态的来源可能与n -AlGaN的内部缺陷以及i-GaN/α -Al2
谭伟石沙昊沈波蔡宏灵吴小山蒋树声郑文莉贾全杰姜晓明
关键词:调制掺杂高分辨X射线衍射氮化镓
利用等厚干涉法测量玻璃弹性模量被引量:5
2014年
提出了一种基于等厚干涉原理测量玻璃弹性模量的方法。在标准平板玻璃上表面和待测平板玻璃下表面形成空气薄膜劈尖,分别测量待测平板玻璃在自然和受力两种状态下等厚干涉条纹的分布情况,从而得出玻璃弹性模量。该方法有效消除了玻璃平板表面不平整、材料内部不均匀和自身重力等因素对测量结果的影响。干涉条纹的分布信息通过CCD图像采集及计算机处理获得。该方法原理简单,设备常见,测量精度高,适用于实验教学,也可用于科研测量。
吴凯王海林谭伟石
关键词:等厚干涉弹性模量
理想气体p-V图上直线过程的温度与热量变化的分析被引量:1
2012年
利用热力学第一定律对理想气体P—V图上的四种直线过程进行了分析,讨论了直线过程中温度与能量的变化情况.
任海林谭伟石徐浦
关键词:理想气体温度
界面粗糙度对Co/Cu/Co/NiO自旋阀磁电阻的影响
2004年
用磁控溅射方法制备了一系列含NiO反铁磁层的Co/Cu/Co自旋阀结构。电磁输运测量表明,对相同Co/Cu/Co结构的自旋阀,NiO在自旋阀的顶部(TSV)和在自旋阀的底部(BSV)表现了不同的磁电阻值和热稳定特性。X射线镜面反射和横向漫散射测量证明小的界面粗糙度是导致磁电阻增大的主要原因,而Co与NiO层间的耦合减弱将导致MR减小,两者共同的作用决定了含NiO的自旋阀的磁电阻。我们由此设计实验将:BSV自旋阀的磁电阻值提高近1倍,即达到-12%,而对称自旋阀的磁电阻则提高到15%。
张爱梅吴小山孙亮蔡宏灵杜军胡安蒋树声谭伟石黄军平罗广圣陈中军陈兴孙民华吴忠华
关键词:界面粗糙度
一个软链问题的受力情况分析
2012年
对软链在桌面滑落的问题进行了详尽的受力情况分析,研究结果表明不能忽略桌角处软链内部的张力变化.
任海林谭伟石徐浦
石英晶片X射线自动分选仪的理论设计被引量:2
2008年
介绍了石英晶片X射线自动分选仪的理论设计,详细讨论了测量原理、测量误差和探测器前端挡板设计等问题。结果表明,利用φ旋转法同时测量(0111)和(0223)晶面的衍射线,可以同时测出XX′倾角和AT切角,实现了对石英晶片的自动准确分选。
邓俊静谭伟石吴小山
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