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朱志武

作品数:20 被引量:84H指数:5
供职机构:中国人民解放军更多>>
发文基金:国家自然科学基金湖南省研究生科研创新项目更多>>
相关领域:电子电信理学自动化与计算机技术一般工业技术更多>>

文献类型

  • 12篇期刊文章
  • 4篇会议论文
  • 2篇学位论文
  • 2篇专利

领域

  • 13篇电子电信
  • 3篇理学
  • 2篇自动化与计算...
  • 2篇一般工业技术
  • 1篇机械工程

主题

  • 15篇激光
  • 8篇激光损伤
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  • 5篇飞秒
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  • 3篇光纤激光器
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机构

  • 20篇国防科学技术...
  • 4篇中国人民解放...
  • 1篇西北核技术研...

作者

  • 20篇朱志武
  • 10篇程湘爱
  • 6篇冯莹
  • 6篇魏立安
  • 5篇姜广文
  • 5篇刘泽金
  • 5篇官庆
  • 4篇黄良金
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传媒

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  • 1篇光电工程
  • 1篇光学仪器

年份

  • 1篇2017
  • 1篇2016
  • 2篇2015
  • 2篇2014
  • 5篇2013
  • 1篇2012
  • 1篇2011
  • 1篇2010
  • 1篇2007
  • 1篇2006
  • 4篇2005
20 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
飞秒脉冲激光入射单层光学薄膜的光场特性数值模拟被引量:3
2011年
飞秒脉冲激光入射光学薄膜形成瞬态光场分布是一个非稳态过程,该过程不同于纳秒脉冲或连续波入射的情形,不能直接采用求解薄膜特征矩阵的方法进行处理。采用多光束叠加的方法建立了超短脉冲入射单层膜的反射率和内部光强分布的理论模型,并根据ZnS薄膜材料的参数和单层增反膜的特点进行了数值计算。结果表明,对单层增反膜,薄膜反射率与脉宽成正比,并随脉宽增加逐渐趋近于连续波入射时的情形。在同一脉宽下,膜层厚度增加,反射率下降,且反射脉冲形状也发生改变。膜层中的光强分布计算结果也明显不同于连续波辐照情形,且薄膜厚度越大,差异越显著,表现为连续波入射时,膜层内的光强分布呈等振幅的波动,而超短脉冲入射时,波动的振幅逐渐增大,在膜层和玻璃分界处达到最大值。
朱志武程湘爱司磊江厚满刘泽金
关键词:激光损伤飞秒激光脉冲数值模拟
激光焦点定位系统及将材料定位于激光焦点处的方法
本发明公开了一种激光焦点定位系统,包括激光器、会聚透镜和材料平移装置,激光器输出的激光束入射到会聚透镜上,经聚焦后入射到材料平移装置上装夹的光学材料表面,激光束经聚焦后产生等离子体亮点,该亮点通过光学材料表面形成一亮点镜...
朱志武程湘爱江天许中杰黄良金郑鑫邱伟成刘泽金
文献传递
一种光纤光源实时测试系统
本文介绍了一种光纤光源实时测试系统。利用GPIB总线和RS-232串行接口把光功率计、光谱分析仪、高低温箱与计算机连接起来,然后利用Borland C++Builder开发环境编制程序完成对仪器的控制、数据的采集和实时处...
姜广文魏立安冯莹朱志武官庆
关键词:GPIB光纤光源远程控制
文献传递
1064nm纳秒单脉冲激光对互补金属氧化物半导体探测器的损伤效应实验研究被引量:4
2013年
实验采用60ns、1064nm单脉冲激光辐照前照式有源型可见光CMOS探测器,随着损伤程度的加深,分别观察到点损伤、半边黑线损伤以及十字交叉黑线损伤等硬损伤现象。各损伤现象出现时对应的探测器表面激光能量密度分别为0.38、0.64、1.0J/cm2。进一步提高激光能量密度,观察到十字交叉黑线变粗,覆盖面积扩大。即使激光能量密度达到2.8J/cm2,此时黑线已经覆盖绝大部分探测器像元,但探测器仍然没有完全失效,未损伤区域还可以成像。基于CMOS样品的结构和工作原理,对损伤机理进行了理论分析,认为点损伤是由于热效应引起结构缺陷从而造成漏电流增加,半边黑线损伤和十字交叉黑线损伤是由于器件电路的熔断导致信号中断。
郭锋朱志武朱荣臻程湘爱
关键词:传感器
多点抽运双包层光纤激光器理论及数值分析被引量:6
2007年
大功率双包层光纤激光器采用分布式多点抽运有利于功率扩展和输出特性的优化。采用数值模拟的方法分别计算了正向多点抽运和反向多点抽运,得出了不同抽运光反射限制和不同的光纤长度条件下抽运点数与输出功率的关系,以及不同抽运点数和不同抽运光反射限制下的光纤最佳长度,并进一步得出,多点抽运时,通过在双包层光纤内包层写入光栅的方法对抽运光进行反射限制可以大大改善光纤激光器的输出特性。这些结论对多点抽运双包层光纤激光器的结构优化具有指导意义。
朱志武冯莹魏立安姜广文官庆
关键词:激光技术数值模拟双包层光纤激光器
飞秒激光作用下薄膜的阈值损伤到膜层剥落被引量:2
2017年
在飞秒单脉冲激光损伤HfO_2/SiO_2薄膜样品实验中,随着激光能量密度升高,膜层从缺陷导致的点损伤发展到整层剥落,损伤区域轮廓由模糊变清晰.研究表明,尺度在纳米量级的颗粒缺陷会产生局部的场增强效应,该效应与薄膜干涉场叠加,造成了阈值损伤阶段损伤区域出现大量损伤点,且由于飞秒激光对包括缺陷在内的薄膜材料的本征损伤特性,使其损伤行为较为确定,随着激光能量的提升,薄膜出现更大面积的规则烧蚀区,此时干涉场的作用上升到主导地位,膜层的整层剥落行为掩盖了缺陷的诱导作用.
石峰朱志武程湘爱戴一帆
关键词:飞秒激光光学薄膜激光损伤
一种光纤光源实时测试系统
2006年
介绍了一种光纤光源实时测试系统。利用GP IB总线或RS-232串行接口把光功率计、光谱分析仪、高低温箱与计算机连接起来,然后利用Borland C++Bu ilder开发环境编制程序完成对仪器的控制、数据的采集和实时处理等功能,建立了一套光纤光源的实时测试系统。该系统可以同时监控和显示光纤光源的输出功率、谱线宽度、峰值波长等参数,有效提高了光纤光源性能参数的测量效率。
姜广文魏立安冯莹朱志武官庆
关键词:GPIB光纤光源远程控制
连续激光与单脉冲纳秒激光对CMOS的损伤效应被引量:12
2014年
针对前照式有源型可见光互补金属氧化物半导体(CMOS)器件,开展了1080nm连续激光与1064nm单脉冲ns激光损伤效应的对比研究,观察到了CMOS出现点损伤、半边黑线损伤与十字交叉黑线损伤三个典型的硬损伤阶段,并分析了损伤机理。在连续激光辐照下,损伤效应主要是热效应的影响。当辐照时间小于稳态时间时,辐照时间越长,损伤阈值越低,当辐照时间大于稳态时间时,损伤阈值趋于稳定值。对损伤后的CMOS器件的微观结构进行了显微观察,结合CMOS电路结构深入分析了各种典型实验现象的损伤机理,半边黑线损伤与十字交叉黑线损伤主要是不同层金属线路熔断导致信号断路。在单脉冲ns激光作用下,CMOS像元表面的硬损伤主要是激光加热作用和等离子体冲击波作用引起的。
王昂郭锋朱志武许中杰程湘爱
关键词:单脉冲热效应
短脉冲激光对可见光CCD及滤光片组件的损伤效应研究
CCD探测器与薄膜滤光片共同构成光电成像系统的核心组件,其中滤光片有选择性的截止某些波段的激光,可提高系统的抗干扰能力。本文开展了纳秒、皮秒以及飞秒脉冲激光对探测器组件的损伤效应研究,得到一些新认识和新结果。 一、对比研...
朱志武
关键词:激光损伤飞秒激光脉冲可见光CCD光学薄膜
文献传递
飞秒激光作用下薄膜的阈值损伤到膜层剥落
在飞秒单脉冲激光损伤HfO/SiO薄膜样品实验中,随着激光能量密度升高,观察到膜层从缺陷导致的点损伤发展到整层剥落,损伤区域轮廓逐渐由模糊变清晰的过程。通过计算纳米尺度的颗粒缺陷导致的局部光场,并与干涉场进行对比分析,再...
朱志武石峰程湘爱戴一凡
关键词:飞秒激光光学薄膜激光损伤
文献传递
共2页<12>
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