周文
- 作品数：7 被引量：4H指数：1
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- GaN基p-i-n型紫外探测器光生载流子屏蔽效应模型
- 2010年
- 通过求解光生载流子连续性方程,得出GaN基p-i-n型紫外探测器耗尽层中的光生载流子密度分布.根据泊松方程计算了光生载流子屏蔽电场,并通过数值计算方法将光生载流子屏蔽电场引入器件模型,建立了光生载流子屏蔽效应模型.在此基础上,讨论了光生载流子屏蔽效应对p-i-n型探测器耗尽区光生载流子密度分布的影响,并分析了外加偏压、入射光功率以及载流子寿命对光生载流子屏蔽效应模型的影响.结果表明光生载流子屏蔽效应对器件性能的影响是非单调的,且通过调节外置偏压可以得到最大载流子漂移速度和最小器件响应时间.
- 高博刘红侠匡潜玮周文曹磊
- 关键词：GANP-I-N紫外探测器
- 汉中市X县农村劳动力资源利用研究
- 劳动力资源是一个国家和地区可持续发展的关键资源，对于劳动力资源的利用已经成为制定经济、社会发展规划的重要依据和来源。我国的劳动力资源现状是总量丰富、质量不均、分布不平衡，农村地区劳动力资源流动性大、稳定性低、带来经济效益...
- 周文
- 关键词：农村劳动力资源利用社会保障政府职能
- 文献传递
- 基于缺陷边界值变化次数的IC缺陷分类方法
- 本发明公开了一种对集成电路缺陷进行分类的方法。其步骤为，首先计算缺陷的灰度值MA，并根据灰度值将缺陷分为多余物缺陷和丢失物；再次对没有缺陷的标准图像进行二值化处理；然后对多余物缺陷和丢失物缺陷同时进行3×3全1矩阵的膨胀...
- 刘红侠周文高博
- 文献传递
- IC中多余物缺陷对信号串扰的定量研究被引量：1
- 2010年
- 该文研究了铜互连线中的多余物缺陷对两根相邻的互连线间信号的串扰,提出了互连线之间的多余物缺陷和互连线之间的互容、互感模型,用于定量的计算缺陷对串扰的影响。提出了把缺陷部分单独看作一段RLC电路模型,通过提出的模型研究了不同互连线参数条件下的信号串扰,主要研究了铜互连线的远端串扰和近端串扰,论文最后提出了一些改进串扰的建议。实验结果证明该文提出的信号串扰模型可用于实际的电路设计中,能够对设计人员设计满足串扰要求的电路提供指导。
- 周文刘红侠匡潜玮高博曹磊
- 关键词：集成电路信号串扰铜互连可靠性
- 有丢失物缺陷的铜互连线中位寿命的定量研究被引量：1
- 2009年
- 本文研究了六层互连线上的丢失物缺陷对互连电迁移中位寿命的影响,提出了各层互连线缺陷处的温度模型和缺陷在不同互连层的中位寿命模型,能够定量地计算缺陷对互连电迁移中位寿命的影响,给出了提高互连线中位寿命的方法.研究结果表明:互连线宽度与缺陷处互连线有效宽度的比值越大,互连线寿命越短;缺陷处的温度越高,互连线寿命越短.在互连线参数变化明显的层与层之间,互连线寿命受比值和温度的双重影响,寿命急剧下降.根据该物理模型可以准确计算出互连线具体的温度和寿命数据,可以直接指导集成电路的设计和工艺制造.
- 周文刘红侠
- 关键词：可靠性铜互连
- 基于缺陷边界值变化次数的IC缺陷分类方法
- 本发明公开了一种对集成电路缺陷进行分类的方法。其步骤为，首先计算缺陷的灰度值MA，并根据灰度值将缺陷分为多余物缺陷和丢失物；再次对没有缺陷的标准图像进行二值化处理；然后对多余物缺陷和丢失物缺陷同时进行3×3全1矩阵的膨胀...
- 刘红侠周文高博
- 文献传递
- IC互连中的缺陷检测方法及缺陷对电路可靠性的影响
- 随着科技发展的日新月异,半导体产业半个世纪来按照摩尔定律飞速向前发展,现在整个集成电路技术向着高密度微型化、高可靠性长寿命以及高成品率的目标发展。大规模集成电路/(Very Large Scale Integration...
- 周文
- 关键词：IC信号完整性互连线可靠性
- 文献传递
